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测试仪器功能约束的参数化设计方法研究

致谢第5-6页
摘要第6-7页
Abstract第7-8页
1 绪论第15-25页
    1.1 研究背景第15-16页
    1.2 测试仪器及其功能设计方法的国内外研究现状第16-22页
        1.2.1 测试仪器设计方法的研究现状第16-19页
        1.2.2 测试仪器的发展现状第19-22页
    1.3 研究意义第22页
    1.4 研究内容第22-25页
2 测试仪器功能约束的参数化设计方法总体方案的研究第25-33页
    2.1 测试仪器功能约束的参数化设计方法的思想第25-26页
    2.2 测试仪器功能约束的参数化设计方法的总体实现方案第26-27页
    2.3 测试仪器功能约束的参数化设计方法具体实现方案的研究第27-32页
        2.3.1 测试仪器驱动接口功能约束的参数化设计的研究方案第27-28页
        2.3.2 测试仪器硬件功能约束的参数化设计的研究方案第28-29页
        2.3.3 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的设计方案第29-32页
    2.4 本章小结第32-33页
3 测试仪器驱动接口功能约束的参数化设计研究第33-41页
    3.1 测试仪器功能驱动标准化方法研究第33-36页
    3.2 测试仪器驱动接口功能约束的参数化模型的设计第36页
    3.3 测试仪器驱动接口命名参数化第36-38页
    3.4 驱动函数接口传递参数的参数化第38-40页
    3.5 本章小结第40-41页
4 测试仪器硬件功能约束的参数化设计的研究第41-53页
    4.1 测试仪器硬件功能设计内容的研究第41-44页
    4.2 测试仪器硬件功能约束的参数化的研究第44-51页
        4.2.1 模拟信号采集功能的参数化设计分析第44-45页
        4.2.2 模拟信号输出功能的参数化设计分析第45-46页
        4.2.3 频率测量/计数器功能的参数化设计分析第46-47页
        4.2.4 数字通讯功能的参数化设计分析第47-49页
        4.2.5 开关功能的参数化设计分析第49-51页
    4.3 测试仪器硬件功能约束的参数化设计模型第51-52页
    4.4 本章小结第52-53页
5 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台第53-69页
    5.1 参数化设计方法实现平台编程语言的选择第53-54页
    5.2 测试仪器驱动接口参数化设计管理器及其参数库实现第54-56页
    5.3 测试仪器硬件功能参数化设计管理器及其参数库的实现第56-58页
    5.4 测试仪器约束性设计文档输出的实现第58-60页
        5.4.1 测试仪器约束性设计文档输出格式的选择第58-59页
        5.4.2 测试仪器约束性设计文档编辑的实现第59-60页
    5.5 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的界面第60-67页
        5.5.1 设计平台界面实现组件的选择第60页
        5.5.2 设计平台界面设计和实现第60-67页
    5.6 本章小结第67-69页
6 测试仪器功能约束的参数化设计方法的实例验证第69-85页
    6.1 测试仪器功能约束的参数化设计方法的实例验证方案第69-70页
    6.2 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的验证第70-72页
        6.2.1 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的验证方案第70页
        6.2.2 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台界面展示第70-71页
        6.2.3 测试仪器样例模块约束性设计文档输出验证第71-72页
        6.2.4 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台验证结果第72页
    6.3 测试仪器驱动接口约束性设计有效性验证第72-76页
        6.3.1 DAQ样例的驱动接口约束性设计有效性验证方案第73页
        6.3.2 DAQ样例的驱动接口约束性设计有效性验证过程和结果第73-76页
        6.3.3 DAQ样例的驱动接口约束性设计有效性验证结果第76页
    6.4 测试仪器硬件功能及其参数约束性设计有效性验证第76-83页
        6.4.1 测试仪器硬件功能及其参数约束性设计有效性验证方案第76-77页
        6.4.2 DAQ模块样例模数转换硬件电路设计关键参数验证第77-79页
        6.4.3 DAQ模块样例数模转换硬件电路设计关键参数验证第79-80页
        6.4.4 DAQ模块样例计数器功能电路设计和参数验证第80-81页
        6.4.5 DAQ模块样例硬件工作环境温度设计参数验证第81页
        6.4.6 DAQ样例的硬件功能及其参数约束性设计有效性验证结果第81-83页
    6.5 本章小结第83-85页
7 总结与展望第85-87页
    7.1 总结第85-86页
    7.2 展望第86-87页
参考文献第87-91页
附录第91-98页
    附录1 (图)第91-96页
        图1: DAQ类测试仪器模块样例顶层电路图第91-92页
        图2: DAQ类测试仪器模块样例ADC与DAC功能原理图第92页
        图3: DAQ类测试仪器模块样例计数功能信号处理电路第92-93页
        图4: DAQ类测试仪器模块样例DAC信号处理电路(1/4通道)第93页
        图5: DAQ类测试仪器模块样例ADC信号处理电路(1/8通道)第93-94页
        图6: DAQ类测试仪器模块样例FPGA计数器实现仿真结果第94-95页
        图7: DAQ类测试仪器模块样例FPGA计数器时钟的仿真结果第95-96页
    附录2 (表)第96-98页
        表1: DAQ类测试仪器模块样例ADC硬件功能设计参数表第96-97页
        表2: DAQ类测试仪器模块样例DAC硬件功能设计参数表第97页
        表3: DAQ类测试仪器模块样例计数功能硬件功能设计参数表第97页
        表4: DAQ模块样例硬件电路工作温度范围第97-98页
作者简历第98页
    教育经历第98页
    项目经历(硕士阶段)第98页

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