| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第15-25页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-16页 |
| 1.2 测试仪器及其功能设计方法的国内外研究现状 | 第16-22页 |
| 1.2.1 测试仪器设计方法的研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.2 测试仪器的发展现状 | 第19-22页 |
| 1.3 研究意义 | 第22页 |
| 1.4 研究内容 | 第22-25页 |
| 2 测试仪器功能约束的参数化设计方法总体方案的研究 | 第25-33页 |
| 2.1 测试仪器功能约束的参数化设计方法的思想 | 第25-26页 |
| 2.2 测试仪器功能约束的参数化设计方法的总体实现方案 | 第26-27页 |
| 2.3 测试仪器功能约束的参数化设计方法具体实现方案的研究 | 第27-32页 |
| 2.3.1 测试仪器驱动接口功能约束的参数化设计的研究方案 | 第27-28页 |
| 2.3.2 测试仪器硬件功能约束的参数化设计的研究方案 | 第28-29页 |
| 2.3.3 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的设计方案 | 第29-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 测试仪器驱动接口功能约束的参数化设计研究 | 第33-41页 |
| 3.1 测试仪器功能驱动标准化方法研究 | 第33-36页 |
| 3.2 测试仪器驱动接口功能约束的参数化模型的设计 | 第36页 |
| 3.3 测试仪器驱动接口命名参数化 | 第36-38页 |
| 3.4 驱动函数接口传递参数的参数化 | 第38-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 4 测试仪器硬件功能约束的参数化设计的研究 | 第41-53页 |
| 4.1 测试仪器硬件功能设计内容的研究 | 第41-44页 |
| 4.2 测试仪器硬件功能约束的参数化的研究 | 第44-51页 |
| 4.2.1 模拟信号采集功能的参数化设计分析 | 第44-45页 |
| 4.2.2 模拟信号输出功能的参数化设计分析 | 第45-46页 |
| 4.2.3 频率测量/计数器功能的参数化设计分析 | 第46-47页 |
| 4.2.4 数字通讯功能的参数化设计分析 | 第47-49页 |
| 4.2.5 开关功能的参数化设计分析 | 第49-51页 |
| 4.3 测试仪器硬件功能约束的参数化设计模型 | 第51-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 5 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台 | 第53-69页 |
| 5.1 参数化设计方法实现平台编程语言的选择 | 第53-54页 |
| 5.2 测试仪器驱动接口参数化设计管理器及其参数库实现 | 第54-56页 |
| 5.3 测试仪器硬件功能参数化设计管理器及其参数库的实现 | 第56-58页 |
| 5.4 测试仪器约束性设计文档输出的实现 | 第58-60页 |
| 5.4.1 测试仪器约束性设计文档输出格式的选择 | 第58-59页 |
| 5.4.2 测试仪器约束性设计文档编辑的实现 | 第59-60页 |
| 5.5 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的界面 | 第60-67页 |
| 5.5.1 设计平台界面实现组件的选择 | 第60页 |
| 5.5.2 设计平台界面设计和实现 | 第60-67页 |
| 5.6 本章小结 | 第67-69页 |
| 6 测试仪器功能约束的参数化设计方法的实例验证 | 第69-85页 |
| 6.1 测试仪器功能约束的参数化设计方法的实例验证方案 | 第69-70页 |
| 6.2 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的验证 | 第70-72页 |
| 6.2.1 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台的验证方案 | 第70页 |
| 6.2.2 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台界面展示 | 第70-71页 |
| 6.2.3 测试仪器样例模块约束性设计文档输出验证 | 第71-72页 |
| 6.2.4 测试仪器功能约束的参数化设计方法实现平台验证结果 | 第72页 |
| 6.3 测试仪器驱动接口约束性设计有效性验证 | 第72-76页 |
| 6.3.1 DAQ样例的驱动接口约束性设计有效性验证方案 | 第73页 |
| 6.3.2 DAQ样例的驱动接口约束性设计有效性验证过程和结果 | 第73-76页 |
| 6.3.3 DAQ样例的驱动接口约束性设计有效性验证结果 | 第76页 |
| 6.4 测试仪器硬件功能及其参数约束性设计有效性验证 | 第76-83页 |
| 6.4.1 测试仪器硬件功能及其参数约束性设计有效性验证方案 | 第76-77页 |
| 6.4.2 DAQ模块样例模数转换硬件电路设计关键参数验证 | 第77-79页 |
| 6.4.3 DAQ模块样例数模转换硬件电路设计关键参数验证 | 第79-80页 |
| 6.4.4 DAQ模块样例计数器功能电路设计和参数验证 | 第80-81页 |
| 6.4.5 DAQ模块样例硬件工作环境温度设计参数验证 | 第81页 |
| 6.4.6 DAQ样例的硬件功能及其参数约束性设计有效性验证结果 | 第81-83页 |
| 6.5 本章小结 | 第83-85页 |
| 7 总结与展望 | 第85-87页 |
| 7.1 总结 | 第85-86页 |
| 7.2 展望 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 附录 | 第91-98页 |
| 附录1 (图) | 第91-96页 |
| 图1: DAQ类测试仪器模块样例顶层电路图 | 第91-92页 |
| 图2: DAQ类测试仪器模块样例ADC与DAC功能原理图 | 第92页 |
| 图3: DAQ类测试仪器模块样例计数功能信号处理电路 | 第92-93页 |
| 图4: DAQ类测试仪器模块样例DAC信号处理电路(1/4通道) | 第93页 |
| 图5: DAQ类测试仪器模块样例ADC信号处理电路(1/8通道) | 第93-94页 |
| 图6: DAQ类测试仪器模块样例FPGA计数器实现仿真结果 | 第94-95页 |
| 图7: DAQ类测试仪器模块样例FPGA计数器时钟的仿真结果 | 第95-96页 |
| 附录2 (表) | 第96-98页 |
| 表1: DAQ类测试仪器模块样例ADC硬件功能设计参数表 | 第96-97页 |
| 表2: DAQ类测试仪器模块样例DAC硬件功能设计参数表 | 第97页 |
| 表3: DAQ类测试仪器模块样例计数功能硬件功能设计参数表 | 第97页 |
| 表4: DAQ模块样例硬件电路工作温度范围 | 第97-98页 |
| 作者简历 | 第98页 |
| 教育经历 | 第98页 |
| 项目经历(硕士阶段) | 第98页 |
