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基于紧凑型中子发生器的快中子照相准直屏蔽系统模拟与设计

中文摘要第3-5页
Abstract第5-6页
第一章 引言第10-14页
    1.1 中子照相简介第10-11页
        1.1.1 中子照相的原理第10页
        1.1.2 中子照相的分类第10页
        1.1.3 中子照相的应用前景第10-11页
    1.2 快中子照相研究进展第11-12页
    1.3 快中子照相装置组成及需要研究的主要问题第12-13页
    1.4 论文主要研究内容及结构第13-14页
第二章 紧凑型中子发生器中子/γ辐射场特性的模拟研究第14-30页
    2.1 紧凑型D-T/D-D中子发生器结构及主要性能参数简介第14-16页
    2.2 紧凑型D-T中子发生器n-γ辐射场特性的模拟研究第16-24页
        2.2.1 MCNP程序简介第16-17页
        2.2.2 模拟模型的建立第17-19页
        2.2.3 模拟结果及讨论第19-23页
        2.2.4 小结第23-24页
    2.3 紧凑型D-D中子发生器n-γ辐射场特性模拟研究第24-29页
        2.3.1 模拟模型的建立第24-25页
        2.3.2 模拟结果及讨论第25-28页
        2.3.4 小结第28-29页
    2.4 本章总结第29-30页
第三章 基于紧凑型D-T中子发生器的快中子照相准直屏蔽体设计及中子束特性模拟研究第30-51页
    3.1 中子辐射屏蔽材料选用第30页
    3.2 屏蔽体尺寸优化第30-37页
        3.2.1 模拟模型建立第30-31页
        3.2.2 模拟结果及分析第31-36页
        3.2.3 小结第36-37页
    3.3 屏蔽准直系统整体优化第37-49页
        3.3.1 整体模拟模型第37-38页
        3.3.2 模拟研究与优化第38-43页
        3.3.3 准直屏蔽体优化方案及主要参数第43-45页
        3.3.4 准直中子束特性模拟研究第45-48页
        3.3.5 小结第48-49页
    3.4 本章总结第49-51页
第四章 基于紧凑型D-D中子发生器的快中子照相准直屏蔽系统设计及中子束特性模拟研究第51-71页
    4.1 中子辐射屏蔽材料选用第51页
    4.2 屏蔽体尺寸优化第51-61页
        4.2.1 模拟模型建立第51-52页
        4.2.2 模拟结果及分析第52-60页
        4.2.3 小结第60-61页
    4.3 屏蔽准直系统整体优化第61-69页
        4.3.1 实验方案设计第61-62页
        4.3.2 模拟结果及分析第62-65页
        4.3.3 最终结构屏蔽效果第65-67页
        4.3.4 准直中子束特性模拟研究第67-69页
        4.3.5 小结第69页
    4.4 本章总结第69-71页
第五章 准直屏蔽体外辐射剂量测量第71-75页
    5.1 D-T中子发生器的屏蔽体外辐射剂量模拟研究第71-72页
        5.1.1 中子辐射剂量第71-72页
        5.1.2 γ辐射剂量第72页
    5.2 D-D中子发生器的屏蔽体外辐射剂量模拟研究第72-74页
        5.2.1 中子辐射剂量第72-73页
        5.2.2 γ辐射剂量第73-74页
    5.3 本章总结第74-75页
第六章 总结与展望第75-77页
    6.1 总结第75-76页
    6.2 展望第76-77页
参考文献第77-80页
学期间的研究成果第80-81页
致谢第81页

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