| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-11页 |
| 1.1.1 课题研究的检测对象 | 第9-10页 |
| 1.1.2 日趋复杂的线束 | 第10-11页 |
| 1.2 线束检测的现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第12-13页 |
| 1.4 本章小结 | 第13-14页 |
| 第二章 线束检测装置改造方案 | 第14-23页 |
| 2.1 线束检测的常规方法 | 第14-18页 |
| 2.1.1 线束故障分析 | 第14-15页 |
| 2.1.2 线束检测电路 | 第15-16页 |
| 2.1.3 线束的检测算法 | 第16-18页 |
| 2.2 常规检测的改进 | 第18-22页 |
| 2.2.1 控制板方案 | 第18-21页 |
| 2.2.2 测试板方案 | 第21-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 控制板设计 | 第23-43页 |
| 3.1 PC 与MCU 数据共享的实现 | 第23-33页 |
| 3.1.1 PCI 接口 | 第23-29页 |
| 3.1.2 PCI 接口芯片CH365 | 第29-30页 |
| 3.1.3 双口RAM | 第30-33页 |
| 3.2 阻抗检测 | 第33-37页 |
| 3.2.1 电阻的计算 | 第33页 |
| 3.2.2 电阻及其常见测量方法 | 第33-37页 |
| 3.3 控制板电路设计 | 第37-41页 |
| 3.3.2 利用双口RAM 实现PC 与MCU 的数据通信 | 第38-39页 |
| 3.3.3 门限电阻检测电路 | 第39-40页 |
| 3.3.4 检测控制电路 | 第40-41页 |
| 3.4 控制板印刷电路板的设计 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 检测板电路设计 | 第43-51页 |
| 4.1 检测板功能 | 第43-44页 |
| 4.2 检测点的扩展 | 第44-48页 |
| 4.2.1 电平输出电路 | 第44-46页 |
| 4.2.2 电平读入电路 | 第46-48页 |
| 4.3 模块信息的控制 | 第48-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 下位机软件设计 | 第51-62页 |
| 5.1 AVR 软件开发 | 第51-56页 |
| 5.1.1 AVR 开发工具的选择 | 第51-54页 |
| 5.1.2 makefile 的编写及其作用 | 第54-56页 |
| 5.2 软件设计 | 第56-61页 |
| 5.2.1 回路表的表示 | 第56-58页 |
| 5.2.2 检测程序 | 第58-59页 |
| 5.2.3 新增功能的实现 | 第59-60页 |
| 5.2.4 通信协议的制定 | 第60-61页 |
| 5.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 上位机软件设计 | 第62-70页 |
| 6.1 CH365 的驱动 | 第62-65页 |
| 6.1.1 Win32 设备驱动程序 | 第62-63页 |
| 6.1.2 CH365 动态链接库的使用 | 第63-65页 |
| 6.2 上位机控制程序的编写 | 第65-68页 |
| 6.2.1 虚拟仪器的使用 | 第65-66页 |
| 6.2.2 操作界面设计 | 第66-68页 |
| 6.2.3 数据库的访问 | 第68页 |
| 6.3 本章小结 | 第68-70页 |
| 第七章 全文总结 | 第70-72页 |
| 7.1 总结 | 第70-71页 |
| 7.2 展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |