移动终端持久性内存的寿命和安全性问题研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 研究目的和意义 | 第9-11页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3.1 NVM性能优化 | 第11页 |
| 1.3.2 NVM安全性优化 | 第11-12页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第12-13页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第13-14页 |
| 2 技术背景论述 | 第14-23页 |
| 2.1 移动终端内存系统 | 第14-21页 |
| 2.1.1 移动终端持久性内存架构 | 第15-17页 |
| 2.1.2 新型非易失性存储 | 第17-21页 |
| 2.2 内存寿命优化 | 第21页 |
| 2.3 内存安全性优化 | 第21-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 非易失性内存寿命研究 | 第23-35页 |
| 3.1 非易失内存系统 | 第23-29页 |
| 3.1.1 寿命优化 | 第24-26页 |
| 3.1.2 算法设计 | 第26-29页 |
| 3.2 实例分析 | 第29-30页 |
| 3.3 理论分析 | 第30-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 非易失性内存安全性研究 | 第35-44页 |
| 4.1 非易失性内存安全 | 第35-36页 |
| 4.2 MobiLock加密机制 | 第36-41页 |
| 4.2.1 MobiLock加密架构 | 第37-39页 |
| 4.2.2 MobiLock安全模型 | 第39-40页 |
| 4.2.3 MobiLock结构组成 | 第40-41页 |
| 4.3 MobiLock实现 | 第41-42页 |
| 4.3.1 MobiLock加密过程 | 第41-42页 |
| 4.3.2 MobiLock解密过程 | 第42页 |
| 4.4 安全性能分析 | 第42-43页 |
| 4.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 5 实验与分析 | 第44-52页 |
| 5.1 实验平台 | 第44-45页 |
| 5.2 测试标准 | 第45-46页 |
| 5.3 实验结果和分析 | 第46-51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 6 总结与展望 | 第52-54页 |
| 6.1 总结 | 第52-53页 |
| 6.2 展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 附录 | 第60页 |
| A. 作者在攻读学位期间内发表的论文目录 | 第60页 |
| B. 作者在攻读学位期间内参加的科研项目 | 第60页 |
| C. 专利 | 第60页 |
