| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 一、绪论 | 第13-32页 |
| 1.1 引言 | 第13页 |
| 1.2 潜指纹 | 第13页 |
| 1.2.1 潜指纹的分类 | 第13页 |
| 1.2.2 潜指纹的组成 | 第13页 |
| 1.3 潜指纹的显现提取手段 | 第13-14页 |
| 1.3.1 物理显现提取手段 | 第14页 |
| 1.3.2 化学显现提取手段 | 第14页 |
| 1.4 潜指纹检测概述 | 第14-21页 |
| 1.4.1 量子点纳米材料 | 第15-18页 |
| 1.4.2 纳米复合材料检测潜指纹概述 | 第18-21页 |
| 1.5 本论文的选题依据及意义 | 第21-23页 |
| 参考文献 | 第23-32页 |
| 二、CdTe@SiO_2/Ag抗菌发光纳米复合材料的制备及性能研究 | 第32-54页 |
| 2.1 引言 | 第32-33页 |
| 2.2 仪器和试剂 | 第33-34页 |
| 2.2.1 仪器 | 第33页 |
| 2.2.2 试剂 | 第33-34页 |
| 2.3 CdTe@SiO_2/Ag纳米复合材料的制备 | 第34-35页 |
| 2.3.1 NaHTe的制备 | 第34页 |
| 2.3.2 CdTe量子点的制备 | 第34页 |
| 2.3.3 CdTe@SiO_2纳米复合材料的制备 | 第34页 |
| 2.3.4 CdTe@SiO_2/Ag纳米复合材料的制备 | 第34-35页 |
| 2.4 CdTe@SiO_2/Ag纳米复合材料的表征 | 第35页 |
| 2.4.1 X射线粉末衍射 | 第35页 |
| 2.4.2 扫描电子显微镜 | 第35页 |
| 2.4.3 透射电子显微镜 | 第35页 |
| 2.4.4 X射线光电子能谱 | 第35页 |
| 2.4.5 荧光光谱 | 第35页 |
| 2.4.6 傅里叶变换红外光谱 | 第35页 |
| 2.4.7 紫外可见吸收光谱 | 第35页 |
| 2.5 CdTe@SiO_2/Ag纳米复合材料的抗菌性能测试 | 第35-36页 |
| 2.6 CdTe@SiO_2/Ag纳米复合材料的潜指纹显现提取测试 | 第36页 |
| 2.6.1 潜指纹的制备 | 第36页 |
| 2.6.2 潜指纹的显现提取 | 第36页 |
| 2.7 结果与讨论 | 第36-49页 |
| 2.7.1 制备过程 | 第36页 |
| 2.7.2 相结构分析 | 第36-37页 |
| 2.7.3 尺寸形貌分析 | 第37-40页 |
| 2.7.4 表面特性分析 | 第40-42页 |
| 2.7.5 荧光特性分析 | 第42-45页 |
| 2.7.6 抗菌性能分析 | 第45-46页 |
| 2.7.7 潜指纹显现提取分析 | 第46-49页 |
| 2.8 本章小结 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 三、“银粉”-CdTe@SiO_2双显现发光纳米复合材料的制备及性能研究 | 第54-73页 |
| 3.1 引言 | 第54页 |
| 3.2 仪器和试剂 | 第54-55页 |
| 3.2.1 仪器 | 第54-55页 |
| 3.2.2 试剂 | 第55页 |
| 3.3 “银粉”-CdTe@SiO_2双显现发光纳米复合材料的制备 | 第55-56页 |
| 3.3.1 NaHTe的制备 | 第55页 |
| 3.3.2 CdTe量子点的制备 | 第55页 |
| 3.3.3 “银粉”-CdTe@SiO_2双显现发光纳米复合材料的制备 | 第55-56页 |
| 3.4 “银粉”-CdTe@SiO_2双显现发光纳米复合材料的表征 | 第56-57页 |
| 3.4.1 X射线粉末衍射 | 第56页 |
| 3.4.2 扫描电子显微镜 | 第56页 |
| 3.4.3 透射电子显微镜 | 第56页 |
| 3.4.4 荧光光谱 | 第56页 |
| 3.4.5 傅里叶变换红外光谱 | 第56-57页 |
| 3.5 “银粉”-CdTe@SiO_2双显现发光复合材料的潜指纹显现提取测试 | 第57页 |
| 3.5.1 潜指纹制备 | 第57页 |
| 3.5.2 潜指纹显现和提取 | 第57页 |
| 3.6 结果与讨论 | 第57-70页 |
| 3.6.1 相结构分析 | 第57-58页 |
| 3.6.2 尺寸形貌分析 | 第58-62页 |
| 3.6.3 表面特性分析 | 第62-63页 |
| 3.6.4 荧光特性分析 | 第63-65页 |
| 3.6.5 潜指纹显现提取分析 | 第65-70页 |
| 3.7 本章小结 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 四、Fe_3O_4-CdTe@SiO_2磁性发光纳米复合材料的制备及性能研究 | 第73-89页 |
| 4.1 引言 | 第73页 |
| 4.2 仪器和试剂 | 第73-74页 |
| 4.2.1 仪器 | 第73-74页 |
| 4.2.2 试剂 | 第74页 |
| 4.3 Fe_3O_4-CdTe@SiO_2磁性发光纳米复合材料的制备 | 第74-75页 |
| 4.3.1 NaHTe的制备 | 第74页 |
| 4.3.2 CdTe量子点的制备 | 第74页 |
| 4.3.3 Fe_3O_4纳米粒子的制备 | 第74-75页 |
| 4.3.4 Fe_3O_4-CdTe@SiO_2磁性发光纳米复合材料的制备 | 第75页 |
| 4.4 Fe_3O_4-CdTe@SiO_2磁性发光纳米复合材料的表征 | 第75-76页 |
| 4.4.1 X射线粉末衍射 | 第75页 |
| 4.4.2 扫描电子显微镜 | 第75-76页 |
| 4.4.3 透射电子显微镜 | 第76页 |
| 4.4.4 荧光光谱 | 第76页 |
| 4.4.5 傅里叶变换红外光谱 | 第76页 |
| 4.4.6 磁性测试 | 第76页 |
| 4.5 Fe_3O_4-CdTe@SiO_2磁性发光纳米复合材料的潜指纹显现提取测试 | 第76页 |
| 4.5.1 潜指纹制备 | 第76页 |
| 4.5.2 潜指纹显现和提取 | 第76页 |
| 4.6 结果与讨论 | 第76-85页 |
| 4.6.1 相结构分析 | 第76-77页 |
| 4.6.2 尺寸形貌分析 | 第77-79页 |
| 4.6.3 表面特性分析 | 第79-80页 |
| 4.6.4 荧光特性分析 | 第80-81页 |
| 4.6.5 磁学性质测试结果分析 | 第81-83页 |
| 4.6.6 潜指纹显现提取分析 | 第83-85页 |
| 4.7 本章小结 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-89页 |
| 五、总结和展望 | 第89-91页 |
| 5.1 总结 | 第89-90页 |
| 5.2 展望 | 第90-91页 |
| 论文发表情况 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92页 |
