射频同轴电缆的屏蔽效能测试系统
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.1 三同轴测试系统的研究现状 | 第10页 |
| 1.2.2 混响室测试系统的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 论文的组织框架 | 第11-13页 |
| 第2章 射频同轴电缆及其屏蔽效能测试方式 | 第13-25页 |
| 2.1 射频同轴电缆 | 第13-16页 |
| 2.1.1 基本结构 | 第13页 |
| 2.1.2 主要参数 | 第13-15页 |
| 2.1.3 简单分类 | 第15-16页 |
| 2.2 射频同轴电缆泄漏原理 | 第16-21页 |
| 2.3 屏蔽效能测试方法简述 | 第21-24页 |
| 2.3.1 功率吸收钳法 | 第21-22页 |
| 2.3.2 线注入法 | 第22页 |
| 2.3.3 电流探头法 | 第22页 |
| 2.3.4 暗室天线法 | 第22-23页 |
| 2.3.5 GTEM小室法 | 第23-24页 |
| 2.3.6 各测试方法的优缺点 | 第24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 三同轴法的基本理论 | 第25-33页 |
| 3.1 三同轴法的结构 | 第25-27页 |
| 3.1.1 三同轴法基本结构 | 第25-26页 |
| 3.1.2 三同轴法拓展结构 | 第26-27页 |
| 3.2 三同轴法的基本测试理论 | 第27-31页 |
| 3.2.1 转移阻抗测试理论 | 第27-30页 |
| 3.2.2 屏蔽衰减测试理论 | 第30-31页 |
| 3.3 本章小结 | 第31-33页 |
| 第4章 混响室法的基本理论 | 第33-43页 |
| 4.1 混响室的电磁场理论 | 第33-36页 |
| 4.2 混响室的主要参数 | 第36-39页 |
| 4.2.1 模频率和模数 | 第36页 |
| 4.2.2 品质因数 | 第36-38页 |
| 4.2.3 品质因数带宽 | 第38页 |
| 4.2.4 搅拌效率 | 第38-39页 |
| 4.2.5 均匀性 | 第39页 |
| 4.3 混响室的基本结构 | 第39-41页 |
| 4.3.1 系统基本回路 | 第40-41页 |
| 4.3.2 屏蔽效能测试原理 | 第41页 |
| 4.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 第5章 三同轴法系统的设计与测试 | 第43-49页 |
| 5.1 三同轴总体设计 | 第43-44页 |
| 5.2 总体尺寸的设计 | 第44-45页 |
| 5.3 远端短路结构的设计 | 第45-46页 |
| 5.4 近端短路结构的设计 | 第46-47页 |
| 5.5 屏蔽效能测试 | 第47-48页 |
| 5.6 本章小结 | 第48-49页 |
| 第6章 混响室法系统的设计与测试 | 第49-65页 |
| 6.1 箱体的设计 | 第49-50页 |
| 6.2 搅拌器的设计 | 第50-51页 |
| 6.3 天线的设计 | 第51-52页 |
| 6.4 混响室的仿真 | 第52-53页 |
| 6.5 放大器的设计 | 第53-54页 |
| 6.6 其他部分的设计 | 第54页 |
| 6.6.1 测试台 | 第54页 |
| 6.6.2 连接设备 | 第54页 |
| 6.7 混响室的均匀性测试 | 第54-58页 |
| 6.7.1 均匀性测试步骤 | 第55-56页 |
| 6.7.2 均匀性测试数据处理 | 第56-58页 |
| 6.8 屏蔽效能测试 | 第58-64页 |
| 6.8.1 测试过程 | 第58-59页 |
| 6.8.2 验证测试结果的重复性 | 第59-61页 |
| 6.8.3 验证测试结果的对比性 | 第61-64页 |
| 6.9 本章小结 | 第64-65页 |
| 第7章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读学位期间取得的研究成果 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
