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基于28nm工艺的数字芯片静态时序分析及优化

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第10-11页
缩略语对照表第11-15页
第一章 概述第15-19页
    1.1 选题背景及研究意义第15页
    1.2 时序验证方法第15-17页
        1.2.1 动态时序分析第15-16页
        1.2.2 静态时序分析第16-17页
    1.3 STA的局限性第17页
    1.4 论文主要工作和章节结构第17-19页
        1.4.1 论文主要工作第17-18页
        1.4.2 论文章节结构第18-19页
第二章 时序分析的基本理论第19-33页
    2.1 时序弧第19页
    2.2 时序模型第19-23页
        2.2.1 单元延时和转换时间第19-20页
        2.2.2 单元延时和转换时间计算第20-23页
    2.3 时序库文件第23-25页
    2.4 互连线参数第25页
    2.5 时序约束第25-30页
        2.5.1 时钟定义第26-28页
        2.5.2 边界条件第28-29页
        2.5.3 特殊路径设置第29-30页
    2.6 小结第30-33页
第三章 基于 28NM工艺静态时序分析理论和流程第33-45页
    3.1 时序路径第33-34页
    3.2 时序计算原理第34-38页
        3.2.1 片上误差第34-37页
        3.2.2 新的时序计算算法第37-38页
        3.2.3 两种算法对比第38页
    3.3 MCMM第38-39页
    3.4 信号完整性分析第39-40页
        3.4.1 信号完整性第39页
        3.4.2 串扰修复第39-40页
    3.5 时序分析流程第40-41页
        3.5.1 提取网表第40页
        3.5.2 RC寄生参数文件第40-41页
        3.5.3 Primetime第41页
    3.6 反标错误分析第41-43页
    3.7 SDF文件第43页
    3.8 本章小结第43-45页
第四章 数字集成电路的时序优化方法第45-53页
    4.1 工程改变命令ECO第45-46页
        4.1.1 ECO分类第45-46页
        4.1.2 timing ECO第46页
    4.2 时序违例因素第46-47页
    4.3 TIMING ECO研究第47-51页
        4.3.1 单元替换第47页
        4.3.2 Buffer insertion第47-51页
        4.3.3 有用偏差第51页
    4.4 本章小结第51-53页
第五章 时序违例分析及修复第53-71页
    5.1 SETUP和HOLD时间违例及优化第53-56页
        5.1.1 Setup违例及优化第53-55页
        5.1.2 Hold违例及优化第55-56页
    5.2 RECOVERY和REMOVAL违例及优化第56-61页
        5.2.1 recovery和removal分析第56-57页
        5.2.2 removal违例分析第57-61页
    5.3 TRANSITION违例及优化第61-65页
        5.3.1 Transition违例第61-65页
        5.3.2 transition违例优化小结第65页
    5.4 I/O时序分析第65页
    5.5 RC-011 违例及优化第65-67页
    5.6 静态功耗的优化第67-69页
    5.7 本章小结第69-71页
第六章 总结与展望第71-73页
    6.1 总结第71-72页
    6.2 展望第72-73页
参考文献第73-77页
致谢第77-79页
作者简介第79-80页

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