摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第12-22页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第12-14页 |
1.2 相关技术发展现状 | 第14-18页 |
1.2.1 激光诱导等离子体技术发展现状 | 第14-16页 |
1.2.2 中阶梯光栅光谱仪发展现状 | 第16-17页 |
1.2.3 中阶梯光栅光谱仪光谱信息处理技术发展现状 | 第17-18页 |
1.3 论文的主要研究内容及结构安排 | 第18-22页 |
1.3.1 论文的主要研究内容 | 第18-19页 |
1.3.2 论文的结构安排 | 第19-22页 |
第2章 中阶梯光栅光谱仪及其谱图信息处理相关理论 | 第22-36页 |
2.1 中阶梯光栅光谱仪在LIPS技术中的应用 | 第22-24页 |
2.1.1 LIPS技术的原理 | 第22-23页 |
2.1.2 LIPS技术对分光系统的要求 | 第23-24页 |
2.2 中阶梯光栅光谱仪原理及特性 | 第24-33页 |
2.2.1 中阶梯光栅光谱仪的优势 | 第24页 |
2.2.2 主色散元件特性 | 第24-27页 |
2.2.3 横向色散元件特性 | 第27-29页 |
2.2.4 中阶梯光栅光谱仪的结构形式 | 第29-32页 |
2.2.5 本文研究对象 | 第32-33页 |
2.3 中阶梯光栅光谱仪谱图信息处理相关技术 | 第33-35页 |
2.4 本章小结 | 第35-36页 |
第3章 中阶梯光栅光谱仪谱图还原算法 | 第36-60页 |
3.1 引言 | 第36页 |
3.2 中阶梯光栅光谱仪谱图还原方法的提出 | 第36-40页 |
3.2.1 从光线追迹到插值 | 第36-37页 |
3.2.2 从数据库到数学模型 | 第37-38页 |
3.2.3 基于偏差法的谱图还原模型 | 第38-40页 |
3.3 谱图还原模型建立方法 | 第40-51页 |
3.3.1 主色散方向成像关系 | 第40-44页 |
3.3.2 横向色散方向成像关系 | 第44-48页 |
3.3.3 二维模型的建立 | 第48-51页 |
3.4 谱图还原模型的精度修正方法 | 第51-55页 |
3.5 实验结果 | 第55-58页 |
3.6 本章小结 | 第58-60页 |
第4章 中阶梯光栅光谱仪图像处理算法 | 第60-78页 |
4.1 引言 | 第60页 |
4.2 背景去除算法 | 第60-70页 |
4.2.1 中阶梯光栅光谱仪二维谱图特点 | 第60-62页 |
4.2.2 形态学滤波 | 第62-64页 |
4.2.3 边缘检测 | 第64-66页 |
4.2.4 边缘图像阈值分割 | 第66-67页 |
4.2.5 背景去除 | 第67-68页 |
4.2.6 实验结果 | 第68-70页 |
4.3 波长提取算法 | 第70-77页 |
4.3.1 基于质心识别的波长提取算法 | 第70-73页 |
4.3.2 基于谱图还原模型的波长提取算法 | 第73-77页 |
4.4 本章小结 | 第77-78页 |
第5章 中阶梯光栅光谱仪在线定标算法 | 第78-88页 |
5.1 引言 | 第78页 |
5.2 多谱线联合定标方法 | 第78-86页 |
5.2.1 汞灯谱线识别 | 第79-81页 |
5.2.2 模型自动匹配 | 第81-83页 |
5.2.3 实验结果与讨论 | 第83-86页 |
5.3 本章小结 | 第86-88页 |
第6章 中阶梯光栅光谱仪整机集成与仪器测试 | 第88-110页 |
6.1 中阶梯光栅光谱仪整机集成 | 第88-97页 |
6.1.1 光机设计与公差分析 | 第88-94页 |
6.1.2 光机装调 | 第94-97页 |
6.2 中阶梯光栅光谱仪上位机软件设计 | 第97-102页 |
6.2.1 上位机软件的功能 | 第97-98页 |
6.2.2 上位机软件设计流程 | 第98-99页 |
6.2.3 上位机软件操作界面 | 第99-102页 |
6.3 中阶梯光栅光谱仪测试 | 第102-110页 |
6.3.1 性能指标测试 | 第102-106页 |
6.3.2 现场测试 | 第106-110页 |
第7章 总结与展望 | 第110-114页 |
7.1 论文工作总结 | 第110-111页 |
7.2 创新点 | 第111页 |
7.3 展望 | 第111-114页 |
参考文献 | 第114-122页 |
在学期间学术成果情况 | 第122-124页 |
指导教师及作者简介 | 第124-126页 |
致谢 | 第126页 |