VXI总线大存储容量扫描A/D模块研制
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
·综述 | 第9-14页 |
·VXI 总线 | 第9页 |
·VXI 总线的特点 | 第9-10页 |
·扫描A/D 概述 | 第10-11页 |
·国内外现状分析 | 第11-12页 |
·课题背景与意义 | 第12页 |
·主要研究内容 | 第12-13页 |
·本文结构 | 第13-14页 |
第2章 方案论证 | 第14-29页 |
·模块总体功能和技术指标 | 第14-15页 |
·模块的功能 | 第14页 |
·模块的技术要求 | 第14-15页 |
·硬件方案论证 | 第15-24页 |
·控制器的选择 | 第16-17页 |
·FPGA 芯片的选择 | 第17-18页 |
·A/D 模数转换芯片选择 | 第18-20页 |
·程控放大器选择 | 第20-21页 |
·模拟开关芯片选择 | 第21-23页 |
·数据存储方案选择 | 第23-24页 |
·软件方案论证 | 第24-26页 |
·DSP 软件方案 | 第24-25页 |
·上位机软件方案 | 第25-26页 |
·误差分析 | 第26-28页 |
·运算放大引起的误差 | 第26-27页 |
·模拟开关引入的误差 | 第27页 |
·A/D 引入的误差 | 第27-28页 |
·模拟量输入误差合成 | 第28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
第3章 硬件设计 | 第29-49页 |
·VXI 智能接口电路 | 第29-30页 |
·SDRAM 控制接口设计 | 第30-32页 |
·数据采样与控制电路设计 | 第32-48页 |
·控制采样逻辑设计 | 第33-38页 |
·A/D 转换 | 第38-40页 |
·程控放大电路设计 | 第40-41页 |
·多路模拟开关电路 | 第41-42页 |
·调理电路设计 | 第42-47页 |
·测试与校准切换电路 | 第47页 |
·电路干扰设计 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第4章 软件设计 | 第49-61页 |
·软件规划 | 第49页 |
·模块驱动程序设计 | 第49-52页 |
·多功能扫描A/D 软面板设计 | 第52-56页 |
·本模块软面板的主要功能 | 第53-54页 |
·多功能扫描A/D 软面板设计 | 第54-56页 |
·DSP 固化程序设计 | 第56-59页 |
·DSP 软件分析 | 第56-57页 |
·DSP 固化程序设计 | 第57-59页 |
·DSP 与VXI 接口通信 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第5章 调试与测试 | 第61-65页 |
·软硬件调试 | 第61-62页 |
·调试方法 | 第61页 |
·调试中遇到的问题 | 第61-62页 |
·模块测试 | 第62-64页 |
·测试方法 | 第62-63页 |
·测试内容 | 第63页 |
·测试结果 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
结论 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-70页 |
致谢 | 第70页 |