| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 概述 | 第11-16页 |
| 第二章 设计基础 | 第16-25页 |
| ·DSP发展应用情况 | 第16-20页 |
| ·DSP的发展历程 | 第16页 |
| ·DSP的特点及优势 | 第16-17页 |
| ·DSP面临的问题 | 第17-18页 |
| ·DSP的发展前景 | 第18-19页 |
| ·以数字信号处理为基础的DSP系统与传统的模拟信号处理系统相比较的优点 | 第19-20页 |
| ·FPGA发展应用情况 | 第20-25页 |
| ·FPGA发展简介 | 第20页 |
| ·FPGA基本结构 | 第20-21页 |
| ·FPGA特点 | 第21-23页 |
| ·FPGA与ASIC、CPLD | 第23-25页 |
| 第三章 设计方案 | 第25-55页 |
| ·主要功能要求 | 第25页 |
| ·信号处理能力要求 | 第25-26页 |
| ·处理板硬件组成要求 | 第26页 |
| ·主要技术指标要求 | 第26-28页 |
| ·接口要求 | 第28页 |
| ·供电电源要求 | 第28-29页 |
| ·设计指导思想 | 第29页 |
| ·设计原理框图 | 第29-31页 |
| ·工作流程及原理描述 | 第31-32页 |
| ·硬件电路及板级支持软件设计 | 第32-55页 |
| ·主控计算机与通用信号处理板接口设计 | 第32-38页 |
| ·DSP动态加载设计 | 第38-40页 |
| ·FPGA加载硬件设计 | 第40-41页 |
| ·自定义总线接口 | 第41-42页 |
| ·DSP的EMIF地址空间分配 | 第42-45页 |
| ·采样时钟设计 | 第45-46页 |
| ·器件选择使用情况及工艺和经济性评价 | 第46-51页 |
| ·关键技术情况及解决措施 | 第51-55页 |
| 第四章 通用信号处理板测试及结果 | 第55-69页 |
| ·电源管理及电流测试 | 第55-57页 |
| ·测试仪器和工具 | 第55页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第55-56页 |
| ·测试方法及步骤 | 第56-57页 |
| ·芯片工作输入及合成输出时钟测试 | 第57-58页 |
| ·测试仪器和工具 | 第57页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第57-58页 |
| ·测试方法及步骤 | 第58页 |
| ·FPGA级联JTAG测试 | 第58-59页 |
| ·测试仪器和工具 | 第58页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第58-59页 |
| ·测试方法及步骤 | 第59页 |
| ·DSP级联JTAG测试 | 第59-61页 |
| ·测试仪器和工具 | 第60页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第60页 |
| ·测试方法及步骤 | 第60-61页 |
| ·异步串口状态控制、信息数据、PRG数据接口测试 | 第61-62页 |
| ·测试仪器和工具 | 第61-62页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第62页 |
| ·测试方法及步骤 | 第62页 |
| ·离散控制接口测试 | 第62-63页 |
| ·测试仪器和工具 | 第62页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第62-63页 |
| ·测试方法及步骤 | 第63页 |
| ·FPGA程序加载测试 | 第63-64页 |
| ·测试仪器和工具 | 第63页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第63-64页 |
| ·测试方法及步骤 | 第64页 |
| ·DSP程序加载测试 | 第64-66页 |
| ·测试仪器和工具 | 第64页 |
| ·测试简单原理及框图 | 第64-65页 |
| ·测试方法及步骤 | 第65-66页 |
| ·通用信号处理板高低温测试 | 第66页 |
| ·测试方法及步骤 | 第66页 |
| ·通用信号处理板测试情况及结论 | 第66-67页 |
| ·通用信号处理板实物 | 第67-69页 |
| 第五章 结论 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 作者攻硕期间取得的成果 | 第73页 |