数字CMOS工艺实现的单片本振电路
摘要 | 第1-4页 |
Abstract(英文摘要) | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第一章 引言 | 第7-11页 |
·CMOS工艺和射频集成电路 | 第7-8页 |
·本振电路的重要作用 | 第8-9页 |
·论文的主要工作 | 第9-10页 |
·论文的组织结构 | 第10-11页 |
第二章 系统设计和仿真 | 第11-30页 |
·频率综合器的常见结构和性能指标 | 第11-13页 |
·常见结构 | 第11-12页 |
·主要性能指标 | 第12-13页 |
·锁相环的模型和基本组成 | 第13-21页 |
·锁相环电路的线性模型 | 第13-17页 |
·锁相环电路的基本单元 | 第17-21页 |
·相位噪声的Leeson模型 | 第21-22页 |
·跳频系统中电荷泵锁相环的基于事件驱动的快速仿真 | 第22-30页 |
·电荷泵锁相环的几种仿真方法 | 第23-25页 |
·事件驱动模型简介 | 第25-26页 |
·实现中的改进和应用 | 第26-30页 |
第三章 元件建模和设计 | 第30-60页 |
·片上集成电感的设计和建模 | 第31-46页 |
·储能元件的Q值 | 第31-34页 |
·片上电感的模型 | 第34-38页 |
·片上电感的设计 | 第38-41页 |
·提高Q值的技术 | 第41-43页 |
·设计实例和改进 | 第43-46页 |
·电容和电阻元件 | 第46-49页 |
·电容元件 | 第46-48页 |
·电阻元件 | 第48-49页 |
·MOS变容管 | 第49-53页 |
·MOS变容管特性 | 第49-51页 |
·MOS变容管用于LC-VCO时的大信号分析 | 第51-52页 |
·I-MOS变容管的串联电阻 | 第52-53页 |
·MOS管和其他元件 | 第53-60页 |
·有源器件 | 第53-58页 |
·硅衬底 | 第58-59页 |
·互连 | 第59页 |
·芯片封装 | 第59-60页 |
第四章 电路设计 | 第60-83页 |
·Integer-N PLL系统 | 第60-65页 |
·设计指标的确定 | 第60-62页 |
·PLL的系统级设计 | 第62-65页 |
·LC-VCO的设计 | 第65-70页 |
·LC-VCO设计时的一般考虑 | 第65-68页 |
·设计实例 | 第68-70页 |
·倍频式VCO和倍频器 | 第70-81页 |
·电路的基本原理和结构 | 第72-76页 |
·电路主要元件的设计 | 第76-79页 |
·仿真结果 | 第79-81页 |
·其他辅助电路 | 第81-83页 |
·TSPC | 第81-83页 |
第五章 版图设计和测试 | 第83-90页 |
·版图设计 | 第83-86页 |
·电路的测试 | 第86-90页 |
第六章 结论和展望 | 第90-92页 |
感谢词 | 第92-93页 |
参考文献 | 第93-97页 |