| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 IGBT寄生参数提取的研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 IGBT建模技术的研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 课题研究内容与创新点 | 第12-14页 |
| 第二章 IGBT特性分析与建模方法分析 | 第14-24页 |
| 2.1 IGBT结构与工作原理 | 第14-15页 |
| 2.1.1 IGBT的结构 | 第14-15页 |
| 2.1.2 IGBT的工作原理 | 第15页 |
| 2.2 IGBT特性分析 | 第15-21页 |
| 2.2.1 IGBT的稳态特性 | 第16-17页 |
| 2.2.2 IGBT的动态特性 | 第17-21页 |
| 2.3 IGBT特性对宽频建模的影响 | 第21-22页 |
| 2.4 IGBT宽频建模方法 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小节 | 第23-24页 |
| 第三章 IGBT宽频特性测量 | 第24-42页 |
| 3.1 提取IGBT寄生参数 | 第24-33页 |
| 3.1.1 传统方法提取寄生参数 | 第24-25页 |
| 3.1.2 三阶段方法提取寄生参数 | 第25-29页 |
| 3.1.3 实验验证 | 第29-33页 |
| 3.1.4 结果分析 | 第33页 |
| 3.2 构建IGBT宽频模型 | 第33-41页 |
| 3.2.1 多斜率技术 | 第33-37页 |
| 3.2.2 模型构造 | 第37-38页 |
| 3.2.3 确定IGBT芯片部分参数值 | 第38-41页 |
| 3.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 IGBT开关过程的传导电磁干扰分析与模型验证 | 第42-59页 |
| 4.1 IGBT开关特性测试实验 | 第42-53页 |
| 4.1.1 基本元器件的宽频模型 | 第42-49页 |
| 4.1.2 开关特性测试回路仿真建模 | 第49-50页 |
| 4.1.3 单脉冲IGBT开关特性实验 | 第50-52页 |
| 4.1.4 宽频模型开关特性验证 | 第52-53页 |
| 4.2 IGBT传导电磁干扰测试实验 | 第53-58页 |
| 4.2.1 传导电磁干扰测试仪器 | 第53-55页 |
| 4.2.2 传导电磁干扰回路建模 | 第55-56页 |
| 4.2.3 IGBT开关过程传导电磁干扰测试实验 | 第56-57页 |
| 4.2.4 验证宽频模型的传导电磁干扰特性 | 第57-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |