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功率器件参数自适应热网络模型的研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-16页
    1.1. 研究背景及意义第8-9页
        1.1.1.研究背景第8-9页
        1.1.2.课题研究意义第9页
    1.2. 国内外研究现状第9-14页
        1.2.1.IGBT结温预测研究现状第9-10页
        1.2.2.IGBT建模研究现状第10-12页
        1.2.3.IGBT状态监测研究现状第12-14页
    1.3. 课题主要研究内容第14-16页
第二章 IGBT工作原理和失效机理第16-24页
    2.1. 引言第16页
    2.2. IGBT结构第16-18页
    2.3. IGBT基本特性第18-21页
        2.3.1.静态特性第18-19页
        2.3.2.动态特性第19-21页
    2.4. IGBT模块失效分析第21-23页
        2.4.1.IGBT芯片失效第21页
        2.4.2.IGBT模块封装失效第21-23页
    2.5. 本章小结第23-24页
第三章 用于预测IGBT结温的电热模型第24-32页
    3.1. IGBT模块热网络模型第24-25页
    3.2. 建立非恒定热导率与比热容的Cauer热网络模型第25-28页
    3.3. 基于物理结构的Cauer模型优化第28-31页
    3.4. 本章小结第31-32页
第四章 自适应热网络模型的建立第32-42页
    4.1. 前言第32页
    4.2. 焊料层老化对底板温度分布的影响第32-34页
    4.3. 焊料层老化对IGBT功率损耗的影响第34-35页
    4.4. 建立焊料疲劳自适应的Cauer热网络模型第35-41页
    4.5. 本章小结第41-42页
第五章 IGBT功率模块仿真实验分析第42-51页
    5.1. 基于ANSYS Workbench仿真设计第42-45页
    5.2. 实验方案设计第45-50页
        5.2.1.变电流测试第46-49页
        5.2.2.焊料层老化测试第49-50页
    5.3. 本章小结第50-51页
第六章 结论与展望第51-53页
    6.1. 结论第51页
    6.2. 展望第51-53页
参考文献第53-59页
在学期间取得的学术成果第59-60页
致谢第60页

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