| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文研究内容及意义 | 第13页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第13-16页 |
| 第二章 栅极驱动LED电路的工作原理 | 第16-30页 |
| 2.1 栅极驱动方式LED驱动芯片 | 第16-18页 |
| 2.1.1 芯片工作原理 | 第16-17页 |
| 2.1.2 产品规格指标 | 第17-18页 |
| 2.2 系统主要功能 | 第18-21页 |
| 2.2.1 功能框图 | 第18页 |
| 2.2.2 功能特点 | 第18-21页 |
| 2.3 可测试性电路原理解析 | 第21-28页 |
| 2.3.1 输入信号处理部分电路 | 第21-23页 |
| 2.3.2 数据可读部分电路 | 第23-24页 |
| 2.3.3 数据写入部分电路 | 第24-27页 |
| 2.3.4 熔丝部分电路 | 第27-28页 |
| 2.4 小结 | 第28-30页 |
| 第三章 基于AccoTEST STS8200的ATE方案设计 | 第30-46页 |
| 3.1 STS8200平台系统特点 | 第30-33页 |
| 3.1.1 测试系统概述 | 第30-31页 |
| 3.1.2 测试系统软件 | 第31-33页 |
| 3.2 硬件电路设计 | 第33-39页 |
| 3.2.1 电源DC部分测试电路 | 第33-34页 |
| 3.2.2 可测试性功能测试电路 | 第34-39页 |
| 3.3 软件程序开发 | 第39-45页 |
| 3.3.1 系统函数流程 | 第40-41页 |
| 3.3.2 测试程序 | 第41-45页 |
| 3.4 测试结果分析说明 | 第45页 |
| 3.5 小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于TERADYDE ETS88的ATE项目测试开发 | 第46-68页 |
| 4.1 ETS88测试机基本介绍 | 第46-52页 |
| 4.1.1 测试系统概述 | 第46-48页 |
| 4.1.2 测试系统常用硬件与指标 | 第48页 |
| 4.1.3 测试系统软件结构 | 第48-52页 |
| 4.2 测试项目设计方案 | 第52-59页 |
| 4.2.1 测试方案流程图 | 第52-53页 |
| 4.2.2 项目测试计划书 | 第53-54页 |
| 4.2.3 测试电路板设计 | 第54-58页 |
| 4.2.4 测试程序函数流程 | 第58-59页 |
| 4.3 测试程序的调试 | 第59-64页 |
| 4.3.1 测试资源定义 | 第59-60页 |
| 4.3.2 AWG测试DC参数 | 第60-61页 |
| 4.3.3 DPU16实现可测试性部分电路 | 第61-64页 |
| 4.4 工程阶段验证 | 第64-67页 |
| 4.5 小结 | 第67-68页 |
| 第五章 应用MINITAB进行数据分析 | 第68-78页 |
| 5.1 MINITAB简介 | 第68页 |
| 5.2 统计过程控制 | 第68-70页 |
| 5.3 测试结果过程能力分析 | 第70-76页 |
| 5.3.1 静态工作电流测试结果 | 第71-72页 |
| 5.3.2 启动/停止工作电压测试结果 | 第72-73页 |
| 5.3.3 过压保护点测试结果 | 第73-74页 |
| 5.3.4 VBG电压测试结果 | 第74-75页 |
| 5.3.5 Vref电压测试结果 | 第75-76页 |
| 5.4 本章小结 | 第76-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 6.1 总结 | 第78页 |
| 6.2 展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82页 |