摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 引言 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
1.3 课题研究的意义 | 第15页 |
1.4 课题的任务和主要工作 | 第15-17页 |
第2章 静电场原理及电容器影响因素分析 | 第17-35页 |
2.1 静电场原理 | 第17页 |
2.2 电容器分析及测量原理 | 第17-20页 |
2.2.1 电容器的种类 | 第17-19页 |
2.2.2 圆柱型电容器的电容梯度计算方法 | 第19-20页 |
2.2.3 测量原理 | 第20页 |
2.3 圆柱型电容器有限元分析 | 第20-34页 |
2.3.1 不同材料的影响 | 第21-22页 |
2.3.2 端盖厚度影响的分析 | 第22-23页 |
2.3.3 端盖凸台影响的分析 | 第23-25页 |
2.3.4 边缘效应仿真分析 | 第25-28页 |
2.3.5 倒角影响的分析 | 第28-29页 |
2.3.6 外电极外侧绝缘层厚度的影响 | 第29-30页 |
2.3.7 外电极内侧添加绝缘介质的分析 | 第30-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 结构设计和加工 | 第35-53页 |
3.1 结构设计总体思路 | 第35-37页 |
3.1.1 结构依据的理论 | 第35-37页 |
3.1.2 结构所包含零部件分析 | 第37页 |
3.2 结构三维设计 | 第37-43页 |
3.2.1 力值发生装置设计 | 第37-39页 |
3.2.2 天平支撑部分设计 | 第39-41页 |
3.2.3 杠杆结构设计 | 第41-42页 |
3.2.4 结构整体装配 | 第42-43页 |
3.3 确定尺寸并加工 | 第43-49页 |
3.3.1 导出二维图并确定公差 | 第43-47页 |
3.3.2 标准件的购买及特殊件的加工 | 第47-48页 |
3.3.3 零件加工及装配 | 第48-49页 |
3.4 分析与校核 | 第49-52页 |
3.5 本章小结 | 第52-53页 |
第4章 电容检测系统的设计 | 第53-71页 |
4.1 电容检测系统的分析 | 第53-54页 |
4.1.1 电容检测原理分析 | 第53页 |
4.1.2 电容检测系统的结构 | 第53-54页 |
4.2 电容检测系统的电路设计 | 第54-62页 |
4.2.1 芯片选型 | 第54-59页 |
4.2.2 电容检测系统原理图 | 第59-62页 |
4.3 电容检测系统的硬件实现 | 第62-64页 |
4.4 电容检测系统的程序设计 | 第64-70页 |
4.4.1 I~2C 总线和 AD7747 的配合协议 | 第64-65页 |
4.4.2 AD7747 寄存器配置 | 第65-66页 |
4.4.3 程序流程图与编程 | 第66-70页 |
4.5 本章小结 | 第70-71页 |
第5章 微力测量系统实验研究 | 第71-81页 |
5.1 系统零点校核实验 | 第71-72页 |
5.2 标称电容实验 | 第72-73页 |
5.3 系统漂移性实验 | 第73-75页 |
5.4 电容梯度测量实验 | 第75-79页 |
5.5 本章小结 | 第79-81页 |
第6章 结论与展望 | 第81-83页 |
参考文献 | 第83-89页 |
附录 | 第89-95页 |
作者简介 | 第95-97页 |
致谢 | 第97页 |