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微力测量系统的设计制造及其实验研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第11-17页
    1.1 引言第11-12页
    1.2 国内外研究现状第12-15页
    1.3 课题研究的意义第15页
    1.4 课题的任务和主要工作第15-17页
第2章 静电场原理及电容器影响因素分析第17-35页
    2.1 静电场原理第17页
    2.2 电容器分析及测量原理第17-20页
        2.2.1 电容器的种类第17-19页
        2.2.2 圆柱型电容器的电容梯度计算方法第19-20页
        2.2.3 测量原理第20页
    2.3 圆柱型电容器有限元分析第20-34页
        2.3.1 不同材料的影响第21-22页
        2.3.2 端盖厚度影响的分析第22-23页
        2.3.3 端盖凸台影响的分析第23-25页
        2.3.4 边缘效应仿真分析第25-28页
        2.3.5 倒角影响的分析第28-29页
        2.3.6 外电极外侧绝缘层厚度的影响第29-30页
        2.3.7 外电极内侧添加绝缘介质的分析第30-34页
    2.4 本章小结第34-35页
第3章 结构设计和加工第35-53页
    3.1 结构设计总体思路第35-37页
        3.1.1 结构依据的理论第35-37页
        3.1.2 结构所包含零部件分析第37页
    3.2 结构三维设计第37-43页
        3.2.1 力值发生装置设计第37-39页
        3.2.2 天平支撑部分设计第39-41页
        3.2.3 杠杆结构设计第41-42页
        3.2.4 结构整体装配第42-43页
    3.3 确定尺寸并加工第43-49页
        3.3.1 导出二维图并确定公差第43-47页
        3.3.2 标准件的购买及特殊件的加工第47-48页
        3.3.3 零件加工及装配第48-49页
    3.4 分析与校核第49-52页
    3.5 本章小结第52-53页
第4章 电容检测系统的设计第53-71页
    4.1 电容检测系统的分析第53-54页
        4.1.1 电容检测原理分析第53页
        4.1.2 电容检测系统的结构第53-54页
    4.2 电容检测系统的电路设计第54-62页
        4.2.1 芯片选型第54-59页
        4.2.2 电容检测系统原理图第59-62页
    4.3 电容检测系统的硬件实现第62-64页
    4.4 电容检测系统的程序设计第64-70页
        4.4.1 I~2C 总线和 AD7747 的配合协议第64-65页
        4.4.2 AD7747 寄存器配置第65-66页
        4.4.3 程序流程图与编程第66-70页
    4.5 本章小结第70-71页
第5章 微力测量系统实验研究第71-81页
    5.1 系统零点校核实验第71-72页
    5.2 标称电容实验第72-73页
    5.3 系统漂移性实验第73-75页
    5.4 电容梯度测量实验第75-79页
    5.5 本章小结第79-81页
第6章 结论与展望第81-83页
参考文献第83-89页
附录第89-95页
作者简介第95-97页
致谢第97页

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