基于虚拟仪器的引信测试系统研制
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
缩略词 | 第10-11页 |
第一章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 课题背景及意义 | 第11页 |
1.2 国内外研究概述 | 第11-13页 |
1.2.1 引信技术发展概述 | 第11-12页 |
1.2.2 引信测试系统发展概述 | 第12页 |
1.2.3 国外自动化测试技术发展 | 第12-13页 |
1.2.4 国内自动化测试技术发展 | 第13页 |
1.3 课题概述 | 第13-16页 |
1.3.1 测试台功能与组成 | 第13-15页 |
1.3.2 测试台技术指标 | 第15-16页 |
1.4 论文的主要内容和论文结构 | 第16-17页 |
第二章 测试系统方案设计 | 第17-28页 |
2.1 虚拟仪器技术 | 第17-19页 |
2.1.1 虚拟仪器概述 | 第17页 |
2.1.2 虚拟仪器系统框架 | 第17-18页 |
2.1.3 虚拟仪器特点 | 第18-19页 |
2.2 测试台总体方案设计 | 第19-21页 |
2.3 测试台硬件设计方案 | 第21-24页 |
2.3.1 测试台硬件选型 | 第21-23页 |
2.3.2 测试台硬件框架 | 第23-24页 |
2.4 测试台软件设计方案 | 第24-28页 |
2.4.1 软件工作流程 | 第24-26页 |
2.4.2 软件相关技术 | 第26-28页 |
第三章 测试系统硬件设计 | 第28-44页 |
3.1 硬件组成 | 第28-29页 |
3.2 电子电路 | 第29-40页 |
3.2.1 电源供电控制电路 | 第29-30页 |
3.2.2 控制信号产生电路 | 第30-31页 |
3.2.3 多普勒信号发生电路 | 第31-35页 |
3.2.4 示波器信号切换电路 | 第35-36页 |
3.2.5 三用表输入信号切换 | 第36-37页 |
3.2.6 目标探测百分比显示电路 | 第37-38页 |
3.2.7 射频电路控制电路 | 第38-40页 |
3.2.8 机柜面板控制电路 | 第40页 |
3.2.9 校准电路 | 第40页 |
3.3 射频电路 | 第40-44页 |
3.3.1 射频电路的结构 | 第40-42页 |
3.3.2 射频电路的延迟计算 | 第42-43页 |
3.3.3 射频电路的衰减计算 | 第43-44页 |
第四章 测试系统软件设计 | 第44-67页 |
4.1 软件设计概述 | 第44-48页 |
4.1.1 LabVIEW简介 | 第44页 |
4.1.2 软件体系结构 | 第44-46页 |
4.1.3 软件设计模式 | 第46-47页 |
4.1.4 软件通讯设置 | 第47-48页 |
4.2 软件模块设计 | 第48-66页 |
4.2.1 用户登录及设备自检 | 第48-52页 |
4.2.2 软件初始化 | 第52页 |
4.2.3 电性能自动测试 | 第52-57页 |
4.2.4 微波性能自动测试 | 第57-61页 |
4.2.5 查询数据库及打印报表 | 第61-64页 |
4.2.6 手动测试 | 第64页 |
4.2.7 参数设置 | 第64-66页 |
4.2.8 用户管理 | 第66页 |
4.3 校准软件 | 第66-67页 |
第五章 测试系统调试 | 第67-71页 |
5.1 系统研发过程 | 第67页 |
5.2 系统调试 | 第67-69页 |
5.2.1 系统硬件调试 | 第67-68页 |
5.2.2 系统软件调试 | 第68-69页 |
5.2.3 整机联调 | 第69页 |
5.3 研发过程中的问题及解决方法 | 第69-71页 |
第六章 总结与展望 | 第71-72页 |
6.1 工作总结 | 第71页 |
6.2 工作展望 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-75页 |
致谢 | 第75-76页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第76页 |