与氧空位有序有关的介电现象研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 电介质物理的基本概念和理论 | 第12-14页 |
| 1.2.1 电介质的概念 | 第12页 |
| 1.2.2 电介质的极化机制 | 第12-13页 |
| 1.2.3 介电常数和介电损耗 | 第13-14页 |
| 1.3 点缺陷引起的介电现象 | 第14-16页 |
| 1.3.1 点缺陷 | 第14-15页 |
| 1.3.2 点缺陷引起的介电现象 | 第15-16页 |
| 1.4 氧空位有的研究历史与现状 | 第16-17页 |
| 1.4.1 空间电荷有序 | 第16页 |
| 1.4.2 氧空位有序 | 第16-17页 |
| 1.5 本文的研究内容和研究意义 | 第17-19页 |
| 第二章 实验方法和原理 | 第19-23页 |
| 2.1 介电性能测试 | 第19-22页 |
| 2.1.1 介电常数和介电损耗的测量 | 第19页 |
| 2.1.2 介电参数温度谱的测量 | 第19-20页 |
| 2.1.3 介电参数频率谱的测量 | 第20-21页 |
| 2.1.4 其他介电函数 | 第21-22页 |
| 2.2 测试仪器 | 第22-23页 |
| 第三章 TiO_2单晶中的氧空位有序 | 第23-38页 |
| 3.1 TiO_2单晶的实验方法 | 第23页 |
| 3.2 TiO_2单晶的数据分析 | 第23-37页 |
| 3.2.1 介电温谱 | 第23-24页 |
| 3.2.2 退火处理 | 第24-26页 |
| 3.2.3 DSC测试 | 第26-27页 |
| 3.2.4 拉曼测试 | 第27-28页 |
| 3.2.5 介电模量谱 | 第28-31页 |
| 3.2.6 劳厄衍射分析 | 第31-33页 |
| 3.2.7 密度泛函理论计算(DFT) | 第33-36页 |
| 3.2.10 直流偏压测试 | 第36-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 MgO单晶中的氧空位有序 | 第38-48页 |
| 4.1 MgO的实验方法 | 第38页 |
| 4.2 MgO单晶的介电数据分析 | 第38-46页 |
| 4.2.1 介电温谱 | 第38-39页 |
| 4.2.2 介电模量谱 | 第39-41页 |
| 4.2.3 退火处理 | 第41-42页 |
| 4.2.4 阻抗谱分析 | 第42-46页 |
| 4.3 本章小结 | 第46-48页 |
| 第五章 TeO_2单晶中的氧空位有序 | 第48-54页 |
| 5.1 TeO_2的实验方法 | 第48页 |
| 5.2 TeO_2的介电性能研究 | 第48-53页 |
| 5.2.1 介电温谱 | 第48-49页 |
| 5.2.2 介电模量谱 | 第49-50页 |
| 5.2.3 退火处理 | 第50-51页 |
| 5.2.4 TG(%)测试 | 第51-52页 |
| 5.2.5 DSC测试 | 第52-53页 |
| 5.3 结论 | 第53-54页 |
| 第六章 LiNbO_3中的氧空位有序及其调控 | 第54-62页 |
| 6.1 LiNbO_3的实验方法 | 第54-55页 |
| 6.1.1 样品测试 | 第54-55页 |
| 6.1.2 氧空位浓度表征(XPS) | 第55页 |
| 6.2 LiNbO_3的介电性能研究 | 第55-61页 |
| 6.2.1 介电温谱 | 第55-59页 |
| 6.2.2 退火处理 | 第59-60页 |
| 6.2.3 偏压测试 | 第60-61页 |
| 6.3 结论 | 第61-62页 |
| 第七章 全文总结 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 硕士期间发表论文 | 第72页 |
