| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 论文研究的目的、意义 | 第8-9页 |
| 1.2 论文研究的国内外现状 | 第9-10页 |
| 1.3 论文的主要结构 | 第10-12页 |
| 第2章 光调制的基本理论 | 第12-17页 |
| 2.1 光调制概述 | 第12-13页 |
| 2.2 调制方式选择 | 第13-14页 |
| 2.3 常见光调制器分类 | 第14-16页 |
| 2.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第3章 相位调制器调制原理及组成结构 | 第17-27页 |
| 3.1 LiNbO3晶体的电光效应 | 第17-19页 |
| 3.2 基于MZM相位调制器原理 | 第19-23页 |
| 3.3 电光调制器参数 | 第23-26页 |
| 3.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第4章 常见的相位调制方式选择 | 第27-37页 |
| 4.1 BPSK调制方式 | 第27-28页 |
| 4.2 DPSK调制方式 | 第28-29页 |
| 4.3 DQPSK调制方式 | 第29-31页 |
| 4.4 三种调制方式比较 | 第31页 |
| 4.5 基于相位调制的三种方式仿真分析 | 第31-36页 |
| 4.5.1 软件平台介绍 | 第31-32页 |
| 4.5.2 基于Optisystem的不同调制系统仿真 | 第32-36页 |
| 4.5.3 不同调制系统仿真对比 | 第36页 |
| 4.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 第5章 基于MPZ-LN-20的BPSK调制系统设计及实验调试 | 第37-47页 |
| 5.1 实验平台搭建 | 第37-44页 |
| 5.1.1 BPSK调制系统设计原理框图 | 第37页 |
| 5.1.2 BPSK调制系统设计技术指标 | 第37-38页 |
| 5.1.3 实验器材选取 | 第38-43页 |
| 5.1.4 实验硬件电路设计 | 第43-44页 |
| 5.2 BPSK调制系统实测 | 第44-46页 |
| 5.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第6章 系统评价及误差分析 | 第47-52页 |
| 6.1 系统评价 | 第47-48页 |
| 6.1.1 误码率BER和Q值 | 第47页 |
| 6.1.2 眼图张开度代价 | 第47-48页 |
| 6.1.3 光信噪比 | 第48页 |
| 6.2 误差分析 | 第48-51页 |
| 6.2.1 激光器线宽对系统性能影响 | 第48-50页 |
| 6.2.2 偏置电压改变对系统性能影响 | 第50-51页 |
| 6.3 本章小结 | 第51-52页 |
| 第7章 总结和展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 作者简介 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |