摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 本论文研究的背景和意义 | 第10-12页 |
1.1.1 研究背景 | 第10-11页 |
1.1.2 研究意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第12-17页 |
1.2.1 技术轨道识别方法综述 | 第12-14页 |
1.2.2 专利引文网络分析方法综述 | 第14-16页 |
1.2.3 综述总结 | 第16-17页 |
1.3 研究方法与内容安排 | 第17-19页 |
1.3.1 主要研究方法 | 第17页 |
1.3.2 本文主要研究内容与组织结构 | 第17-19页 |
1.4 主要创新点 | 第19-21页 |
第2章 基本概念界定与理论梳理 | 第21-32页 |
2.1 技术轨道理论 | 第21-23页 |
2.1.1 技术轨道的概念 | 第21-22页 |
2.1.2 技术轨道的关键属性与影响因素 | 第22-23页 |
2.2 专利引文网络 | 第23-28页 |
2.2.1 专利引文网络的定义与特点 | 第23-24页 |
2.2.2 主路径分析方法 | 第24-27页 |
2.2.3 主路径方法的算法实现 | 第27-28页 |
2.3 结构洞理论 | 第28-32页 |
2.3.1 结构洞的概念 | 第28-30页 |
2.3.2 结构洞的计算指标 | 第30-32页 |
第3章 动态技术轨道识别与评价模型 | 第32-47页 |
3.1 构建专利引文网络 | 第33-36页 |
3.1.1 数据获取与预处理 | 第34-35页 |
3.1.2 生成引文矩阵 | 第35-36页 |
3.1.3 生成引文网络 | 第36页 |
3.2 主路径方法识别动态技术轨道 | 第36-41页 |
3.2.1 划分技术发展阶段 | 第36-38页 |
3.2.2 生成动态主路径 | 第38-40页 |
3.2.3 识别动态技术轨道 | 第40-41页 |
3.3 结构洞方法定量评价动态技术轨道 | 第41-47页 |
3.3.1 结构洞方法对技术轨道评价的原理 | 第41-42页 |
3.3.2 结构洞计算指标选择 | 第42-44页 |
3.3.3 动态技术轨道的定量评价 | 第44-47页 |
第4章 实证研究——以纳米导药系统(NEDD)为例 | 第47-72页 |
4.1 纳米导药系统简介 | 第47-50页 |
4.1.1 纳米导药系统的定义介绍 | 第47页 |
4.1.2 纳米导药系统的研究内容 | 第47-50页 |
4.2 构建NEDD专利引文网络 | 第50-56页 |
4.2.1 NEDD检索策略及数据获取 | 第50-53页 |
4.2.2 NEDD专利数据清洗并生成专利引文网络 | 第53-56页 |
4.3 识别NEDD动态技术轨道 | 第56-66页 |
4.3.1 NEDD动态主路径提取 | 第56-58页 |
4.3.2 NEDD领域动态技术轨道识别 | 第58-62页 |
4.3.3 结果分析 | 第62-66页 |
4.4 定量评价NEDD动态技术轨道 | 第66-72页 |
4.4.1 构建UCINET输入文件 | 第66页 |
4.4.2 计算结构洞指标 | 第66-68页 |
4.4.3 结果分析及预测 | 第68-72页 |
结论 | 第72-75页 |
参考文献 | 第75-80页 |
攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第80-81页 |
致谢 | 第81页 |