摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 文献综述 | 第11-18页 |
1.1 引言 | 第11页 |
1.2 CO催化氧化催化剂 | 第11-13页 |
1.3 负载型CuO-CeO_2催化剂 | 第13-15页 |
1.3.1 硅铝酸盐载体 | 第13页 |
1.3.2 Al_2O_3载体 | 第13页 |
1.3.3 FeCrAl载体 | 第13-14页 |
1.3.4 ZrO_2载体 | 第14页 |
1.3.5 SiO_2载体 | 第14页 |
1.3.6 SBA-15载体 | 第14-15页 |
1.4 SBA-15介孔材料 | 第15页 |
1.5 CO催化氧化机理 | 第15-16页 |
1.6 本课题工作 | 第16-18页 |
第二章 实验部分 | 第18-21页 |
2.1 试剂与仪器 | 第18-19页 |
2.2 催化剂的制备 | 第19页 |
2.3 催化剂的表征 | 第19-20页 |
2.3.1 X-射线衍射(XRD) | 第19页 |
2.3.2 氮气吸脱附测定 | 第19页 |
2.3.3 扫描电镜(SEM) | 第19页 |
2.3.4 透射电镜(TEM) | 第19页 |
2.3.5 拉曼表征 | 第19-20页 |
2.3.6 X-射线光电子能谱(XPS) | 第20页 |
2.3.7 原位漫反射红外光谱(in situ DRIFTS) | 第20页 |
2.3.8 程序升温还原(H_2-TPR) | 第20页 |
2.3.9 程序升温脱附(CO-TPD) | 第20页 |
2.4 催化剂的活性评价 | 第20-21页 |
第三章 表面活性剂(PEG 200)用量的影响 | 第21-34页 |
3.1 前言 | 第21页 |
3.2 结果与讨论 | 第21-33页 |
3.2.1 XRD测试 | 第21-22页 |
3.2.2 N_2吸脱附分析 | 第22-24页 |
3.2.3 扫描电镜表征 | 第24-25页 |
3.2.4 TEM表征 | 第25-26页 |
3.2.5 Raman表征 | 第26-27页 |
3.2.6 XPS表征 | 第27-29页 |
3.2.7 原位DRIFTS表征 | 第29页 |
3.2.8 H_2-TPR分析 | 第29-30页 |
3.2.9 CO-TPD分析 | 第30-32页 |
3.2.10 催化剂活性评价 | 第32-33页 |
3.3 本章小结 | 第33-34页 |
第四章 焙烧温度对CuO-CeO_2/SBA-15催化性能的影响 | 第34-44页 |
4.1 前言 | 第34页 |
4.2 结果与讨论 | 第34-42页 |
4.2.1 XRD分析 | 第34-35页 |
4.2.2 N_2吸脱附分析 | 第35-37页 |
4.2.3 TEM分析 | 第37-38页 |
4.2.4 XPS分析 | 第38-39页 |
4.2.5 Raman表征 | 第39-40页 |
4.2.6 H_2-TPR表征 | 第40-41页 |
4.2.7 CO-TPD表征 | 第41-42页 |
4.2.8 活性评价 | 第42页 |
4.3 本章小结 | 第42-44页 |
第五章 PEG分子量对CuO-CeO_2/SBA-15催化性能的影响 | 第44-53页 |
5.1 前言 | 第44页 |
5.2 结果与讨论 | 第44-51页 |
5.2.1 XRD分析 | 第44-45页 |
5.2.2 N_2吸脱附分析 | 第45-46页 |
5.2.3 Raman分析 | 第46-47页 |
5.2.4 XPS分析 | 第47-49页 |
5.2.5 H_2-TPR分析 | 第49-50页 |
5.2.6 CO-TPD分析 | 第50页 |
5.2.7 活性评价 | 第50-51页 |
5.3 本章小结 | 第51-53页 |
第六章 表面活性剂类型对CuO-CeO_2/SBA-15催化性能的影响 | 第53-61页 |
6.1 前言 | 第53页 |
6.2 结果与讨论 | 第53-60页 |
6.2.1 XRD测试 | 第53-54页 |
6.2.2 N_2吸脱附测试 | 第54-55页 |
6.2.3 Raman测试表征 | 第55-56页 |
6.2.4 XPS测试 | 第56-57页 |
6.2.5 H_2-TPR测试 | 第57-58页 |
6.2.6 CO-TPD测试 | 第58-59页 |
6.2.7 活性测试 | 第59-60页 |
6.3 本章小结 | 第60-61页 |
第七章 结论 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-70页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第70-71页 |
致谢 | 第71页 |