铁电存储器单粒子效应关键影响因素研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-23页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第9-17页 |
| 1.1.1 应用需求 | 第9页 |
| 1.1.2 空间辐射环境 | 第9-11页 |
| 1.1.3 空间辐射效应 | 第11-14页 |
| 1.1.4 铁电材料及其抗辐射性能 | 第14-15页 |
| 1.1.5 铁电存储器的结构及工作原理 | 第15-17页 |
| 1.2 铁电存储器单粒子效应的研究现状 | 第17-21页 |
| 1.2.1 单粒子效应地面模拟装置 | 第17-20页 |
| 1.2.2 国内外研究现状 | 第20页 |
| 1.2.3 相关研究存在的不足 | 第20-21页 |
| 1.3 创新点及论文结构安排 | 第21-23页 |
| 1.3.1 主要创新点 | 第21页 |
| 1.3.2 论文结构安排 | 第21-23页 |
| 第2章 铁电存储器功能模块单粒子锁定敏感性研究 | 第23-30页 |
| 2.1 实验条件 | 第23-25页 |
| 2.1.1 脉冲激光微束单粒子效应模拟装置 | 第23-24页 |
| 2.1.2 单粒子锁定测试系统 | 第24页 |
| 2.1.3 单粒子翻转测试系统 | 第24-25页 |
| 2.2 实验样品及功能模块划分 | 第25-26页 |
| 2.3 实验结果 | 第26-28页 |
| 2.3.1 各功能模块锁定敏感性 | 第26-28页 |
| 2.3.2 由单粒子锁定引发的翻转 | 第28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 工作频率对铁电存储器单粒子翻转的影响研究 | 第30-39页 |
| 3.1 脉冲激光微束单粒子背辐照实验方法研究 | 第30-33页 |
| 3.1.1 脉冲激光背辐照方法原理与应用现状 | 第30页 |
| 3.1.2 背辐照实验样品处理方法 | 第30-31页 |
| 3.1.3 背辐照定位方法 | 第31-33页 |
| 3.2 工作频率对铁电存储器单粒子翻转的影响 | 第33-38页 |
| 3.2.1 实验方案 | 第33-34页 |
| 3.2.2 实验结果 | 第34-36页 |
| 3.2.3 失效机制分析 | 第36-38页 |
| 3.2.4 分析验证 | 第38页 |
| 3.3 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 温度对铁电存储器单粒子效应的影响研究 | 第39-48页 |
| 4.1 被测器件温度控制系统 | 第39-40页 |
| 4.2 温度对铁电存储器单粒子翻转的影响研究 | 第40-44页 |
| 4.2.1 外围电路 | 第40页 |
| 4.2.2 存储阵列 | 第40-42页 |
| 4.2.3 失效机制分析 | 第42-44页 |
| 4.3 温度对铁电存储器单粒子锁定的影响研究 | 第44-47页 |
| 4.3.1 实验结果 | 第44-46页 |
| 4.3.2 失效机制分析 | 第46-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 累积剂量对铁电存储器单粒子翻转的影响研究 | 第48-57页 |
| 5.1 实验方法 | 第48-49页 |
| 5.1.1 累积剂量实验 | 第48页 |
| 5.1.2 单粒子实验 | 第48-49页 |
| 5.2 实验结果 | 第49-52页 |
| 5.2.1 累积剂量实验结果 | 第49-50页 |
| 5.2.2 单粒子实验结果 | 第50-52页 |
| 5.3 机理分析 | 第52-55页 |
| 5.3.1 总剂量效应导致的性能退化 | 第52页 |
| 5.3.2 电离辐射对铁电电容的影响 | 第52-55页 |
| 5.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 第6章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 6.1 工作总结 | 第57-58页 |
| 6.2 工作展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第67页 |
