数据采集系统的内建自测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1. 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·内建自测试激励信号生成技术研究现状 | 第10-11页 |
| ·模拟电路内建自测试技术研究现状 | 第11页 |
| ·ADC 内建自测试技术研究现状 | 第11-13页 |
| ·论文研究内容及安排 | 第13-14页 |
| 2. 数据采集系统的内建自测试设计 | 第14-20页 |
| ·电路内建自测试的基本结构 | 第14-15页 |
| ·数据采集系统及其内建自测试设计总体 | 第15-17页 |
| ·数据采集系统 | 第15-16页 |
| ·内建自测试设计总体 | 第16-17页 |
| ·内建自测试的建模策略 | 第17-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3. 内建自测试激励信号生成技术研究 | 第20-30页 |
| ·测试激励需求分析 | 第20-21页 |
| ·传统的内建自测试激励信号生成方法 | 第21-25页 |
| ·数字振荡器 | 第21-23页 |
| ·Σ-Δ调制器 | 第23-25页 |
| ·改进的内建自测试激励信号生成方法 | 第25-26页 |
| ·实验结果及分析 | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 4. 模拟电路内建自测试技术研究 | 第30-36页 |
| ·基于方波激励和故障字典的模拟电路内建自测试方法 | 第30-31页 |
| ·方波激励的可行性分析 | 第31页 |
| ·故障字典的建立 | 第31-32页 |
| ·实验结果及分析 | 第32-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 5. ADC 内建自测试技术研究 | 第36-60页 |
| ·ADC 的性能指标 | 第36-37页 |
| ·ADC 的静态参数 | 第36-37页 |
| ·ADC 的动态参数 | 第37页 |
| ·传统的 ADC 测试方法 | 第37-43页 |
| ·ADC 的静态参数码密度直方图测试 | 第37-41页 |
| ·ADC 的动态参数 FFT 测试 | 第41-43页 |
| ·改进的 ADC 内建自测试方法 | 第43-50页 |
| ·相干采样的建立 | 第44-46页 |
| ·窗函数的确定 | 第46-48页 |
| ·静态参数的获取 | 第48-49页 |
| ·动态参数的获取 | 第49-50页 |
| ·实验结果及分析 | 第50-59页 |
| ·ADC 静态参数测试结果 | 第51-52页 |
| ·ADC 动态参数测试结果 | 第52-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 6. 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士期间发表的论文及研究成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
