| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·论文研究的背景及意义 | 第12-13页 |
| ·系统性能评估模型的建立方法 | 第13-14页 |
| ·红外导引系统抗干扰性能评估的研究现状 | 第14-16页 |
| ·本文的研究内容和工作安排 | 第16-18页 |
| 第二章 红外制导技术和红外干扰技术机理分析 | 第18-25页 |
| ·红外导引系统概述 | 第18-19页 |
| ·红外导引系统的功能 | 第18页 |
| ·红外导引系统的分类 | 第18页 |
| ·红外导引系统的发展状况 | 第18-19页 |
| ·红外制导技术的工作原理 | 第19-22页 |
| ·红外点源制导技术工作原理 | 第19-20页 |
| ·红外成像制导技术工作原理 | 第20-22页 |
| ·红外干扰技术 | 第22-24页 |
| ·辐射衰减型红外干扰 | 第22-23页 |
| ·信息欺骗型红外干扰 | 第23-24页 |
| ·功能损伤型红外干扰 | 第24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 红外导引系统抗干扰性能评估指标体系 | 第25-38页 |
| ·建立指标体系的原则 | 第25-26页 |
| ·影响红外成像导引系统抗干扰性能的指标分析 | 第26-36页 |
| ·红外导引系统的探测能力 | 第27-29页 |
| ·红外导引系统的抗干扰能力 | 第29-32页 |
| ·红外导引系统的再次截获能力 | 第32-36页 |
| ·红外导引系统抗干扰性能评估指标体系建立 | 第36-37页 |
| ·建立指标体系的相关说明 | 第36页 |
| ·初步建立抗干扰评估指标体系 | 第36-37页 |
| ·本章总结 | 第37-38页 |
| 第四章 红外导引系统抗干扰性能评估方法研究 | 第38-56页 |
| ·基于层次分析法的抗干扰性能评估 | 第38-47页 |
| ·层次分析法的思想和原理介绍 | 第38-39页 |
| ·层次分析法的模型和步骤 | 第39-42页 |
| ·仿真实验 | 第42-47页 |
| ·基于支持向量回归机的抗干扰性能评估 | 第47-51页 |
| ·SVR 的工作原理 | 第48页 |
| ·SVR 的参数选择 | 第48-49页 |
| ·仿真实验 | 第49-51页 |
| ·基于 ADC 方法的抗干扰性能评估 | 第51-54页 |
| ·ADC 效能模型 | 第51-52页 |
| ·红外导引系统抗干扰性能评估 ADC 法的效能参数分析 | 第52-53页 |
| ·仿真实验 | 第53-54页 |
| ·三种评估方法的比较 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 红外导引系统抗干扰性能评估软件系统开发 | 第56-67页 |
| ·软件系统的实现 | 第56-62页 |
| ·系统架构设计 | 第56-57页 |
| ·用户界面模块 | 第57-60页 |
| ·评估算法模块 | 第60-62页 |
| ·软件系统测试 | 第62-66页 |
| ·基于层次分析法评估的系统测试 | 第62-64页 |
| ·基于支持向量回归机评估的系统测试 | 第64页 |
| ·基于 ADC 方法评估的系统性能测试 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| ·本文主要的工作 | 第67页 |
| ·不足之处与进一步的展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第73页 |