高频光电导衰减法少子寿命测试仪设计
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-13页 |
·本课题研究的理论意义和实际意义 | 第10页 |
·本课题国内外的研究情况 | 第10-12页 |
·本文的主要研究工作 | 第12-13页 |
第二章 少子寿命测量方法分析 | 第13-28页 |
·少子寿命的基本概念 | 第13-14页 |
·非平衡少数载流子的产生 | 第14-15页 |
·非平衡少数载流子的复合 | 第15页 |
·测量少子寿命的方法 | 第15-27页 |
·准稳态光电导衰减法 | 第16-17页 |
·扩散长度法 | 第17页 |
·双脉冲法 | 第17-18页 |
·光电磁法 | 第18页 |
·表面光电压法 | 第18-21页 |
·直流光电导衰减法 | 第21-23页 |
·高频光电导衰减法 | 第23-26页 |
·微波反射光电导衰减法 | 第26-27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第三章 模拟部分设计 | 第28-37页 |
·高频源电路的设计 | 第29-32页 |
·光源的选择 | 第32页 |
·放大电路的设计 | 第32-34页 |
·检波电路的设计 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第四章 单片机软/硬件设计 | 第37-52页 |
·PIC单片机介绍 | 第37-40页 |
·单片机的应用 | 第37-38页 |
·PIC单片机的特点和型号 | 第38-40页 |
·系统时钟介绍 | 第40页 |
·程序介绍 | 第40-51页 |
·键盘模块 | 第41-42页 |
·显示模块 | 第42-44页 |
·I~2C模块 | 第44-47页 |
·输入捕捉模块 | 第47-49页 |
·脉宽调制(PWM)输出工作模式 | 第49-51页 |
·本章小节 | 第51-52页 |
第五章 结论 | 第52-53页 |
参考文献 | 第53-55页 |
附录A 前面板版图 | 第55-56页 |
附录B 主控板版图 | 第56-57页 |
在学研究成果 | 第57-58页 |
致谢 | 第58页 |