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高频光电导衰减法少子寿命测试仪设计

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
第一章 绪论第10-13页
   ·本课题研究的理论意义和实际意义第10页
   ·本课题国内外的研究情况第10-12页
   ·本文的主要研究工作第12-13页
第二章 少子寿命测量方法分析第13-28页
   ·少子寿命的基本概念第13-14页
   ·非平衡少数载流子的产生第14-15页
   ·非平衡少数载流子的复合第15页
   ·测量少子寿命的方法第15-27页
     ·准稳态光电导衰减法第16-17页
     ·扩散长度法第17页
     ·双脉冲法第17-18页
     ·光电磁法第18页
     ·表面光电压法第18-21页
     ·直流光电导衰减法第21-23页
     ·高频光电导衰减法第23-26页
     ·微波反射光电导衰减法第26-27页
   ·本章小结第27-28页
第三章 模拟部分设计第28-37页
   ·高频源电路的设计第29-32页
   ·光源的选择第32页
   ·放大电路的设计第32-34页
   ·检波电路的设计第34-36页
   ·本章小结第36-37页
第四章 单片机软/硬件设计第37-52页
   ·PIC单片机介绍第37-40页
     ·单片机的应用第37-38页
     ·PIC单片机的特点和型号第38-40页
     ·系统时钟介绍第40页
   ·程序介绍第40-51页
     ·键盘模块第41-42页
     ·显示模块第42-44页
     ·I~2C模块第44-47页
     ·输入捕捉模块第47-49页
     ·脉宽调制(PWM)输出工作模式第49-51页
   ·本章小节第51-52页
第五章 结论第52-53页
参考文献第53-55页
附录A 前面板版图第55-56页
附录B 主控板版图第56-57页
在学研究成果第57-58页
致谢第58页

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