宇航处理器Cache系统的可靠性分析和加固研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题研究背景 | 第11-13页 |
| ·课题研究现状 | 第13-15页 |
| ·国外研究现状 | 第13-14页 |
| ·国内研究现状 | 第14-15页 |
| ·课题研究内容 | 第15-16页 |
| ·论文结构 | 第16-17页 |
| 第二章 空间辐射环境及其影响 | 第17-28页 |
| ·空间辐射环境 | 第17-19页 |
| ·银河辐射射线 | 第18页 |
| ·太阳粒子事件 | 第18-19页 |
| ·地磁捕获辐射 | 第19页 |
| ·空间辐射效应 | 第19-22页 |
| ·总剂量效应 | 第20-21页 |
| ·单粒子效应 | 第21-22页 |
| ·单粒子翻转机理 | 第22-26页 |
| ·电荷沉淀 | 第23-24页 |
| ·电荷收集 | 第24页 |
| ·SRAM 中的单粒子翻转机理 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 可靠性评估方法 | 第28-38页 |
| ·基于故障注入的可靠性评估 | 第28-35页 |
| ·硬件故障注入方法 | 第28-31页 |
| ·软件故障注入方法 | 第31-33页 |
| ·仿真故障注入方法 | 第33-35页 |
| ·基于解析模型的可靠性评估 | 第35-37页 |
| ·软错误的表征 | 第35页 |
| ·软错误的屏蔽 | 第35-36页 |
| ·软错误的计算 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 可靠性加固方法 | 第38-46页 |
| ·常见容软错误加固技术 | 第38-39页 |
| ·三模冗余技术 | 第39-42页 |
| ·传统三模冗余 | 第39-40页 |
| ·时空三模冗余 | 第40-42页 |
| ·检错纠错码技术 | 第42-43页 |
| ·Cache 可靠性加固技术 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 CACHE 系统的可靠性评估与加固 | 第46-55页 |
| ·可靠性研究原型 | 第46-47页 |
| ·可靠性评估平台 | 第47-48页 |
| ·可靠性分析结果 | 第48-54页 |
| ·无故障注入且无加固方法 | 第48-49页 |
| ·有故障注入且无加固方法 | 第49-50页 |
| ·有故障注入且有加固方法 | 第50-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 结束语 | 第55-57页 |
| ·主要工作内容 | 第55页 |
| ·后续研究工作 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 附录1 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第63-65页 |
