| 目次 | 第1-6页 |
| 致谢 | 第6-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 1 引言 | 第9-13页 |
| 2 成品率测试结构 | 第13-28页 |
| ·成品率概念 | 第13-16页 |
| ·测试结构的作用 | 第16-20页 |
| ·测试结构的应用 | 第20-21页 |
| ·测试芯片的开发 | 第21-23页 |
| ·使用测试芯片解决问题 | 第23-28页 |
| 3 SRAM专用测试结构的设计方法 | 第28-37页 |
| ·SRAM工作原理 | 第28-31页 |
| ·SRAM专用测试结构描述 | 第31-34页 |
| ·SRAM专用测试结构的效果 | 第34-37页 |
| 4 SRAM专用测试芯片设计方案 | 第37-44页 |
| ·设计工具说明 | 第37-38页 |
| ·设计方案 | 第38-44页 |
| 5 测试结果及分析 | 第44-57页 |
| ·芯片成品率综述 | 第44-46页 |
| ·常规测试结果分析 | 第46-51页 |
| ·SRAM结构测试结果分析 | 第51-57页 |
| 6 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 附录一 | 第60-73页 |
| 附录二 | 第73-77页 |
| 作者简历 | 第77页 |