编码结构光条纹亚像素边缘与中心检测技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·课题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·边缘检测的发展现状 | 第11-15页 |
| ·经典边缘检测算子 | 第11-12页 |
| ·多尺度边缘检侧方法 | 第12-13页 |
| ·基于小波的边缘检测方法 | 第13页 |
| ·基于数学形态学的边缘检测方法 | 第13-14页 |
| ·亚像素边缘检测方法 | 第14-15页 |
| ·中心检测的发展现状 | 第15-18页 |
| ·极值法 | 第16页 |
| ·几何中心法 | 第16页 |
| ·阈值法 | 第16页 |
| ·曲线拟合法 | 第16-17页 |
| ·方向模板法 | 第17页 |
| ·Hessian 矩阵法 | 第17-18页 |
| ·课题来源及研究内容 | 第18-19页 |
| 第2章 条纹边缘检测方法研究 | 第19-37页 |
| ·现有边缘检测方法 | 第19-25页 |
| ·基于微分的边缘检测 | 第19-21页 |
| ·基于二值化法的边缘检测 | 第21-25页 |
| ·基于正反图案的条纹边缘检测方法 | 第25-33页 |
| ·基于正反图案的编码原理 | 第26-28页 |
| ·直线拟合的亚像素条纹边缘检测方法 | 第28-33页 |
| ·实验分析 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 条纹边缘检测影响因素研究 | 第37-51页 |
| ·物体表面特性的影响 | 第37-43页 |
| ·物体表面反射率的影响 | 第37-38页 |
| ·物体表面粗糙度的影响 | 第38-40页 |
| ·实验分析 | 第40-43页 |
| ·物体表面形貌的影响 | 第43-48页 |
| ·表面倾斜对条纹宽度的影响 | 第43-44页 |
| ·表面倾斜对像素灰度值的影响 | 第44-45页 |
| ·实验分析 | 第45-48页 |
| ·离焦的影响 | 第48-50页 |
| ·本章小节 | 第50-51页 |
| 第4章 条纹中心检测方法研究 | 第51-59页 |
| ·线移编码 | 第51-52页 |
| ·线移条纹中心检测 | 第52-56页 |
| ·激光条纹中心检测方法 | 第53-55页 |
| ·线移条纹中心检测方法 | 第55-56页 |
| ·实验结果与分析 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
