首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--半导体器件制造工艺及设备论文--光刻、掩膜论文

八阶二元光学器件的光刻技术研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-6页
目录第6-7页
第一章 绪论第7-15页
   ·论文研究背景及意义第7-8页
   ·二元光学器件的研究及发展概况第8-13页
   ·论文研究目的和内容第13-15页
第二章 光刻掩模的设计与制作第15-36页
   ·光刻掩模的设计第15-20页
   ·激光直接写入系统第20-21页
   ·极坐标激光直接写入系统原理与构成第21-31页
   ·掩模的激光直写制作第31-35页
   ·误差分析第35-36页
第三章 八阶二元光学器件的光刻第36-52页
   ·光刻技术现状第36-37页
   ·紫外光刻设备第37-39页
   ·光刻工艺过程第39-52页
第四章 八阶二元光学器件的蚀刻成型第52-63页
   ·蚀刻方法第52-56页
   ·八阶二元光学器件的反应离子束蚀刻第56-63页
第五章 结果及误差分析第63-73页
   ·实验结果第63页
   ·误差种类第63-64页
   ·误差对衍射效率的影响第64-73页
总结第73-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-76页

论文共76页,点击 下载论文
上一篇:二烯丙基二硫对人白血病HL-60细胞株增殖的影响及其机制探讨
下一篇:英属北美殖民地时代弗吉尼亚本土精英探微:1700—1750