| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-12页 |
| 插图目录 | 第12-14页 |
| 表格目录 | 第14-16页 |
| 第一章 引言 | 第16-28页 |
| ·数字电路测试 | 第16-22页 |
| ·故障模型 | 第16-17页 |
| ·自动测试向量生成 | 第17-18页 |
| ·扫描设计 | 第18-19页 |
| ·内建自测试 | 第19页 |
| ·处理器测试 | 第19-22页 |
| ·测试功耗 | 第22页 |
| ·测试压缩 | 第22页 |
| ·系统芯片测试 | 第22-24页 |
| ·本文的贡献及章节安排 | 第24-28页 |
| 第二章 数字电路测试压缩方法 | 第28-44页 |
| ·测试数据中的X位 | 第29-31页 |
| ·测试激励压缩方法 | 第31-37页 |
| ·测试激励压缩方法的分类 | 第31-33页 |
| ·编码压缩方法 | 第33-34页 |
| ·广播式压缩方法 | 第34-36页 |
| ·逻辑变换压缩方法 | 第36-37页 |
| ·测试响应压缩方法 | 第37-40页 |
| ·空间压缩 | 第40页 |
| ·时间和空间组合压缩 | 第40页 |
| ·测试压缩体系结构 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-44页 |
| 第三章 Variable-Tail编码及测试数据压缩 | 第44-62页 |
| ·测试压缩中的编码设计 | 第44页 |
| ·Run-Length和Golomb编码 | 第44-46页 |
| ·Run-Length编码 | 第44-45页 |
| ·Golomb编码 | 第45页 |
| ·编码小结 | 第45-46页 |
| ·Variable-Tail编码 | 第46-48页 |
| ·Variable-Tail编码介绍 | 第46页 |
| ·解码器结构 | 第46-48页 |
| ·Variable-Tail编码分析 | 第48-52页 |
| ·压缩率分析 | 第48-52页 |
| ·测试时间分析 | 第52页 |
| ·测试功耗优化 | 第52-54页 |
| ·待测电路上测试功耗分析和优化 | 第53-54页 |
| ·测试数据压缩和测试功耗的协同优化 | 第54-55页 |
| ·实验数据分析 | 第55-59页 |
| ·小结 | 第59-62页 |
| 第四章 数字芯核并行外壳设计 | 第62-78页 |
| ·芯核外壳设计 | 第62页 |
| ·串行外壳设计的代价 | 第62-64页 |
| ·扫描切片重叠和部分重叠 | 第64-66页 |
| ·并行外壳设计方法 | 第66-73页 |
| ·两阶段测试向量处理 | 第67-71页 |
| ·测试功耗优化 | 第71-73页 |
| ·实验数据分析 | 第73-76页 |
| ·小结 | 第76-78页 |
| 第五章 3X压缩结构中X-Config激励压缩 | 第78-90页 |
| ·3X压缩结构 | 第78-80页 |
| ·3X压缩结构框架 | 第78-79页 |
| ·3X压缩结构软件原型系统接口 | 第79-80页 |
| ·X-Config测试激励压缩技术 | 第80-83页 |
| ·广播式压缩方法 | 第80-81页 |
| ·X-Config技术及解压缩电路结构 | 第81-83页 |
| ·周期可重构MUXs网络的自动综合算法 | 第83-86页 |
| ·测试压缩率分析 | 第86-88页 |
| ·小结 | 第88-90页 |
| 第六章 3X压缩结构中X-Balance测试生成和扫描设计 | 第90-100页 |
| ·动态和无损协同压缩技术研究 | 第90-91页 |
| ·针对三类芯核的X-Balance测试生成和扫描设计 | 第91-95页 |
| ·针对硬核的测试生成 | 第91页 |
| ·针对灰核的X-Balance测试生成 | 第91-93页 |
| ·针对软核的X-Balance测试生成和扫描设计 | 第93-95页 |
| ·缩性能分析 | 第95-98页 |
| ·小结 | 第98-100页 |
| 第七章 3X压缩结构中X-Tolerant响应压缩 | 第100-118页 |
| ·无混淆压缩和实际失效芯片中错误位分布 | 第100-101页 |
| ·卷积码背景介绍 | 第101-102页 |
| ·改进的(n,n-1,m,d)卷积码设计 | 第102-106页 |
| ·压缩电路的两种不同实现形式 | 第106-108页 |
| ·低未知位掩盖概率设计 | 第108-112页 |
| ·诊断设计 | 第112-114页 |
| ·混淆率方面的一些实验结果 | 第114-117页 |
| ·小结 | 第117-118页 |
| 第八章 3X压缩结构性能分析 | 第118-132页 |
| ·用于评估分析的基准电路和向量 | 第118-119页 |
| ·3X压缩结构开销分析 | 第119-121页 |
| ·X-Config解压缩电路时序和面积开销分析 | 第119-120页 |
| ·X-Tolerant卷积编码压缩电路的面积开销分析 | 第120-121页 |
| ·3X压缩结构和多种方法、原型系统的比较 | 第121-126页 |
| ·和纯全扫描结构的比较 | 第121-122页 |
| ·和UIUC大学Illinois扫描结构的比较 | 第122-123页 |
| ·和Duke大学的相关研究比较 | 第123-124页 |
| ·和X-Compact的比较 | 第124-126页 |
| ·3X压缩结构在工业实践中的应用 | 第126-130页 |
| ·小结 | 第130-132页 |
| 第九章 结语 | 第132-138页 |
| ·本文的主要贡献 | 第132-135页 |
| ·测试压缩研究发展趋势 | 第135页 |
| ·今后的工作设想 | 第135-138页 |
| 参考文献 | 第138-150页 |
| 中英文术语对照 | 第150-152页 |
| 致谢 | 第152-154页 |
| 发表论文目录 | 第154-158页 |
| 作者简历 | 第158页 |
