| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-11页 |
| ·数字电视及视频后处理芯片 | 第7-8页 |
| ·芯片设计流程 | 第8-10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-11页 |
| 第2章 核心算法 | 第11-35页 |
| ·去隔行技术 | 第11-27页 |
| ·隔行与逐行 | 第11-12页 |
| ·去隔行 | 第12-27页 |
| ·无运动补偿的去隔行算法 | 第13-22页 |
| ·线性技术 | 第13-16页 |
| ·空间滤波算法 | 第13-14页 |
| ·时域滤波算法 | 第14-15页 |
| ·空间-时间滤波算法(VT filtering) | 第15-16页 |
| ·非线性算法 | 第16-22页 |
| ·运动自适应算法 | 第16-18页 |
| ·基于边界的插值算法 | 第18-19页 |
| ·隐式自适应算法(Implicitly adapting) | 第19-20页 |
| ·混合算法 | 第20-22页 |
| ·运动补偿算法(Motion compensate) | 第22-27页 |
| ·时域逆向投影算法 | 第23页 |
| ·时域递归去隔行算法 | 第23-24页 |
| ·自适应递归去隔行 | 第24-25页 |
| ·基于一般化抽样定理的去隔行算法 | 第25-26页 |
| ·运动补偿混合算法 | 第26-27页 |
| ·运动估计 | 第27-29页 |
| ·块匹配算法(BMA) | 第27-29页 |
| ·基本思想 | 第27-29页 |
| ·帧率变换 | 第29-35页 |
| ·帧率提升法 | 第29-33页 |
| ·线性平均法 | 第31-32页 |
| ·运动补偿法 | 第32-33页 |
| ·100Hz隔行扫描 | 第33-35页 |
| 第3章 算法的硬件实现 | 第35-47页 |
| ·帧内降噪 | 第36-38页 |
| ·运动估计 | 第38-41页 |
| ·算法及原理 | 第38-39页 |
| ·算法的硬件实现 | 第39-41页 |
| ·运动补偿 | 第41-43页 |
| ·原理及算法 | 第41-42页 |
| ·运动补偿模块的硬件实现 | 第42-43页 |
| ·帧率变换 | 第43-47页 |
| ·原理及算法 | 第44-45页 |
| ·硬件实现 | 第45-47页 |
| 第4章 一种色度瞬态改善算法及其实现 | 第47-55页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·基本原理及常用算法 | 第47-48页 |
| ·基本原理 | 第47页 |
| ·常用算法 | 第47-48页 |
| ·一种基于九抽头通滤波器的新算法 | 第48-50页 |
| ·边沿检测和勾边 | 第48页 |
| ·核化降噪(coring) | 第48-49页 |
| ·生成窗口 | 第49页 |
| ·生成新色差数据 | 第49-50页 |
| ·过冲处理 | 第50页 |
| ·算法的硬件实现及仿真结果 | 第50-53页 |
| ·数据流控制模块 | 第51页 |
| ·九抽头滤波器 | 第51页 |
| ·过冲处理模块 | 第51-52页 |
| ·其它模块 | 第52页 |
| ·可调参数的实现 | 第52-53页 |
| ·硬件仿真结果 | 第53-54页 |
| ·结论 | 第54-55页 |
| 第5章 VLSI中的可测试性设计及其应用 | 第55-72页 |
| ·引言 | 第55-56页 |
| ·可测试性设计 | 第56页 |
| ·VLSI中的常见故障及其测试方法 | 第56-61页 |
| ·固定退化故障测试 | 第56-57页 |
| ·CMOS门的固定断路故障测试 | 第57-58页 |
| ·延迟故障测试 | 第58-59页 |
| ·时序电路的测试 | 第59-60页 |
| ·存储器的测试 | 第60-61页 |
| ·VLSI中的可测试性设计 | 第61-67页 |
| ·扫描路径法 | 第61-63页 |
| ·BIST法 | 第63-66页 |
| ·测试嵌入式存储器 | 第65页 |
| ·逻辑测试 | 第65-66页 |
| ·ATPG简介 | 第66-67页 |
| ·可测试性设计在视频后处理芯片测试中的应用 | 第67-68页 |
| ·V1.0芯片测试方案 | 第68-72页 |
| ·测试平台 | 第68-70页 |
| ·测试方案及步骤 | 第70-72页 |
| 第6章 基于计算机并口EPP模式的FPGA调试方案 | 第72-79页 |
| ·引言 | 第72页 |
| ·EPP协议 | 第72-74页 |
| ·简介 | 第72页 |
| ·读写时序 | 第72-73页 |
| ·数据写周期 | 第72-73页 |
| ·数据读周期时序 | 第73页 |
| ·地址读、写周期 | 第73页 |
| ·EPP的硬件握手信号 | 第73-74页 |
| ·基于EPP协议的FPGA调试方案 | 第74-78页 |
| ·系统介绍 | 第74页 |
| ·调试方案 | 第74-78页 |
| ·调试任务 | 第74-75页 |
| ·调试方案框图 | 第75-76页 |
| ·调试方案 | 第76-78页 |
| ·总线连接 | 第76页 |
| ·地址分配 | 第76-77页 |
| ·数据传输格式 | 第77页 |
| ·调试流程 | 第77页 |
| ·软件设计 | 第77-78页 |
| ·电路的软硬件实现结果 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
