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高速低功耗嵌入式SRAM的设计与优化

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 绪论第11-15页
   ·课题研究背景第11-12页
   ·相关研究第12-13页
   ·研究内容第13-14页
   ·论文的组织结构第14-15页
第二章 SRAM 概述第15-21页
   ·SRAM 总体结构第15-16页
   ·SRAM 单元工作原理第16-19页
   ·高速低功耗SRAM 技术第19-20页
     ·低功耗SRAM 设计第19-20页
     ·高速SRAM 设计第20页
   ·小结第20-21页
第三章 SRAM 存储体电路设计第21-36页
   ·存储体结构及工作时序第21-23页
     ·存储体基本结构第22-23页
     ·存储体工作时序第23页
   ·数据通路设计第23-30页
     ·预充电路第24-25页
     ·灵敏放大器第25-28页
     ·读写控制电路第28-30页
   ·译码通路设计第30-32页
     ·多级静态译码第30-31页
     ·字线脉冲结构第31-32页
   ·控制通路设计第32-35页
     ·复制电路第32-34页
     ·自定时电路第34-35页
   ·小结第35-36页
第四章 SRAM 存储体优化及版图布局第36-48页
   ·调节位线放电第36-42页
     ·延时匹配机制第36-38页
     ·敏感放大范围第38-39页
     ·调节位线放电第39-42页
   ·存储体版图布局第42-47页
     ·整体布局与规划第42-44页
     ·存储阵列布局第44-46页
     ·字线译码阵列布局第46页
     ·电源和时钟网络布局第46-47页
   ·小结第47-48页
第五章 存储体模拟及时序建模第48-58页
   ·存储体模拟第48-53页
     ·模拟流程第48-49页
     ·SRAM 电路快速模拟第49-51页
     ·版图模拟第51-53页
   ·存储体时序模型建立第53-57页
     ·IP 核相关模型第53-55页
     ·时序模型建立第55-57页
   ·小结第57-58页
第六章 扫描链测试电路设计第58-64页
   ·扫描测试思想第58-59页
   ·扫描测试电路第59-62页
     ·输入扫描链第59-60页
     ·输出扫描链第60-61页
     ·扫描控制部件第61-62页
   ·测试过程与结果第62-63页
   ·小结第63-64页
第七章 结束语第64-66页
   ·工作总结第64页
   ·工作展望第64-66页
致谢第66-67页
参考文献第67-69页
攻读硕士期间发表的学术论文第69页

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