0.13μm标准单元库中寄存器的优化方法
| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| ·标准单元的概述 | 第13-14页 |
| ·寄存器的研究状况 | 第14-15页 |
| ·本文主要工作 | 第15-16页 |
| ·文章的组织结构 | 第16-17页 |
| 第二章 标准单元库 | 第17-27页 |
| ·标准单元的设计方法 | 第17页 |
| ·寄存器标准单元库的设计环境 | 第17-20页 |
| ·0.13μm 的寄存器标准单元库的组成 | 第17-18页 |
| ·标准单元库设计的相关工具 | 第18页 |
| ·标准单元设计的流程 | 第18-20页 |
| ·标准单元的设计规则 | 第20-24页 |
| ·标准单元设计的版图设计规则 | 第20-22页 |
| ·标准单元设计的特点 | 第22-24页 |
| ·标准单元库的发展趋势 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 基本的寄存器 | 第27-37页 |
| ·寄存器的概念和作用 | 第27-28页 |
| ·寄存器的性能参数 | 第28-30页 |
| ·时间参数 | 第28-30页 |
| ·功耗参数 | 第30页 |
| ·典型的主从寄存器 | 第30-33页 |
| ·典型的脉冲寄存器 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 典型的寄存器的分析和比较 | 第37-48页 |
| ·寄存器的电路设计技术和版图设计技术 | 第37-45页 |
| ·电路尺寸的设计 | 第37-40页 |
| ·版图的设计和优化 | 第40-43页 |
| ·寄存器的模拟 | 第43-45页 |
| ·典型寄存器的比较 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 寄存器的优化设计 | 第48-73页 |
| ·双边沿的设计技术 | 第48-53页 |
| ·基本的双边沿寄存器 | 第48-51页 |
| ·双边沿寄存器的优化设计 | 第51-53页 |
| ·避免结点的冗余传递技术 | 第53-60页 |
| ·条件预充技术 | 第54-55页 |
| ·条件占有技术 | 第55-56页 |
| ·条件放电技术 | 第56-60页 |
| ·带门控的寄存器的技术 | 第60-61页 |
| ·带扫描功能的寄存器 | 第61-67页 |
| ·扫描单元 | 第61-63页 |
| ·多路复用的D 寄存器的设计 | 第63-65页 |
| ·LSSD 型寄存器的设计 | 第65-67页 |
| ·阵列寄存器 | 第67-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 寄存器性能测试样片设计 | 第73-78页 |
| ·建立时间的测试 | 第73-74页 |
| ·保持时间的测试 | 第74-75页 |
| ·传播延时的测试 | 第75-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第七章 结束语 | 第78-80页 |
| ·课题工作总结 | 第78页 |
| ·未来工作展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文 | 第84页 |
