摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 存储器设计实现背景及研究动态 | 第10-12页 |
1.1.1 国内外研究动态分析 | 第10-11页 |
1.1.2 行业技术水平分析 | 第11-12页 |
1.2 配置存储器发展研究分析 | 第12-13页 |
1.2.1 配置存储器设计实现意义 | 第12页 |
1.2.2 大容量存储器和通用性研究意义 | 第12-13页 |
1.3 该课题研究的意义和主要工作 | 第13-16页 |
1.3.1 本课题研究的意义 | 第13-14页 |
1.3.2 本课题实现主要完成的工作 | 第14-16页 |
第二章 128MBITS存储器的功能指标及功能介绍 | 第16-24页 |
2.1 128MBITS存储器的指标和功能简介 | 第16-19页 |
2.1.1 存储器功能指标及结构 | 第16-18页 |
2.1.2 Flash存储器芯片端口分析 | 第18-19页 |
2.2 芯片功能分析与设计 | 第19-23页 |
2.2.1 芯片储存区架构分析 | 第19-20页 |
2.2.2 芯片接口指令 | 第20-21页 |
2.2.3 芯片内的特殊寄存器 | 第21-23页 |
2.3 本章小结 | 第23-24页 |
第三章 128MBITS存储器芯片的电路设计 | 第24-51页 |
3.1 存储器的设计和实现流程 | 第24-26页 |
3.2 存储器设计实现的方案和电路设计 | 第26-50页 |
3.2.1 芯片设计框架和方案 | 第26-34页 |
3.2.1.1 芯片设计和实现的工艺解决方案 | 第26-27页 |
3.2.1.2 芯片的设计实现整体框架结构 | 第27-30页 |
3.2.1.3 Flash存储器数字模块实现的框架结构 | 第30-34页 |
3.2.2 芯片状态机设计 | 第34-43页 |
3.2.2.1 Flash存储器芯片上电初始化状态机设计 | 第34-37页 |
3.2.2.2 芯片的功能状态机设计 | 第37-41页 |
3.2.2.3 芯片内部功能执行的状态机设计 | 第41-43页 |
3.2.3 芯片可测试接口电路的设计 | 第43-47页 |
3.2.3.1 TAP测试模式的方案的设计与实现 | 第43-45页 |
3.2.3.2 基于SPI协议的测试端口的设计与实现 | 第45-47页 |
3.2.3.3 内置的DFT专用测试接口的实现 | 第47页 |
3.2.4 冗余数字电路设计和优化 | 第47-50页 |
3.3 本章小结 | 第50-51页 |
第四章 存储芯片电路的仿真验证与原型验证 | 第51-71页 |
4.1 存储器的功能仿真分析 | 第51-63页 |
4.1.1 模拟电路设计功能仿真结果 | 第51-55页 |
4.1.1.1 LDO模块的仿真 | 第51-53页 |
4.1.1.2 内部OSC振荡器的仿真结果 | 第53-55页 |
4.1.2 基于UVM平台的Flash存储器的功能仿真验证 | 第55-61页 |
4.1.2.1 基于UVM平台的Flash存储器验证结构 | 第55-56页 |
4.1.2.2 Flash存储器芯片功能仿真 | 第56-61页 |
4.1.3 芯片设计的数字电路验证覆盖率分析 | 第61-63页 |
4.2 存储器设计的原型验证 | 第63-69页 |
4.2.1 芯片原型验证原理分析 | 第63-64页 |
4.2.2 芯片原型验证方案 | 第64-67页 |
4.2.3 存储器原型验证的实现结果分析 | 第67-69页 |
4.3 本章小结 | 第69-71页 |
第五章 128MBITS存储器电路的后端实现 | 第71-80页 |
5.1 DC综合分析实现 | 第71-75页 |
5.2 版图的分析和实现 | 第75-78页 |
5.3 后仿真研究和分析 | 第78-79页 |
5.4 本章小结 | 第79-80页 |
第六章 128MBITS存储器的测试与应用 | 第80-85页 |
6.1 128MBITS存储器芯片的参数测试 | 第80-81页 |
6.2 128MBITS存储器典型板级应用 | 第81-85页 |
6.2.1 与FPGA配合时配置模式应用 | 第81-83页 |
6.2.2 在线编程系统的软件交互解决方案 | 第83-85页 |
第七章 结论 | 第85-86页 |
致谢 | 第86-87页 |
参考文献 | 第87-88页 |