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大容量通用FPGA配置存储器设计与实现

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 存储器设计实现背景及研究动态第10-12页
        1.1.1 国内外研究动态分析第10-11页
        1.1.2 行业技术水平分析第11-12页
    1.2 配置存储器发展研究分析第12-13页
        1.2.1 配置存储器设计实现意义第12页
        1.2.2 大容量存储器和通用性研究意义第12-13页
    1.3 该课题研究的意义和主要工作第13-16页
        1.3.1 本课题研究的意义第13-14页
        1.3.2 本课题实现主要完成的工作第14-16页
第二章 128MBITS存储器的功能指标及功能介绍第16-24页
    2.1 128MBITS存储器的指标和功能简介第16-19页
        2.1.1 存储器功能指标及结构第16-18页
        2.1.2 Flash存储器芯片端口分析第18-19页
    2.2 芯片功能分析与设计第19-23页
        2.2.1 芯片储存区架构分析第19-20页
        2.2.2 芯片接口指令第20-21页
        2.2.3 芯片内的特殊寄存器第21-23页
    2.3 本章小结第23-24页
第三章 128MBITS存储器芯片的电路设计第24-51页
    3.1 存储器的设计和实现流程第24-26页
    3.2 存储器设计实现的方案和电路设计第26-50页
        3.2.1 芯片设计框架和方案第26-34页
            3.2.1.1 芯片设计和实现的工艺解决方案第26-27页
            3.2.1.2 芯片的设计实现整体框架结构第27-30页
            3.2.1.3 Flash存储器数字模块实现的框架结构第30-34页
        3.2.2 芯片状态机设计第34-43页
            3.2.2.1 Flash存储器芯片上电初始化状态机设计第34-37页
            3.2.2.2 芯片的功能状态机设计第37-41页
            3.2.2.3 芯片内部功能执行的状态机设计第41-43页
        3.2.3 芯片可测试接口电路的设计第43-47页
            3.2.3.1 TAP测试模式的方案的设计与实现第43-45页
            3.2.3.2 基于SPI协议的测试端口的设计与实现第45-47页
            3.2.3.3 内置的DFT专用测试接口的实现第47页
        3.2.4 冗余数字电路设计和优化第47-50页
    3.3 本章小结第50-51页
第四章 存储芯片电路的仿真验证与原型验证第51-71页
    4.1 存储器的功能仿真分析第51-63页
        4.1.1 模拟电路设计功能仿真结果第51-55页
            4.1.1.1 LDO模块的仿真第51-53页
            4.1.1.2 内部OSC振荡器的仿真结果第53-55页
        4.1.2 基于UVM平台的Flash存储器的功能仿真验证第55-61页
            4.1.2.1 基于UVM平台的Flash存储器验证结构第55-56页
            4.1.2.2 Flash存储器芯片功能仿真第56-61页
        4.1.3 芯片设计的数字电路验证覆盖率分析第61-63页
    4.2 存储器设计的原型验证第63-69页
        4.2.1 芯片原型验证原理分析第63-64页
        4.2.2 芯片原型验证方案第64-67页
        4.2.3 存储器原型验证的实现结果分析第67-69页
    4.3 本章小结第69-71页
第五章 128MBITS存储器电路的后端实现第71-80页
    5.1 DC综合分析实现第71-75页
    5.2 版图的分析和实现第75-78页
    5.3 后仿真研究和分析第78-79页
    5.4 本章小结第79-80页
第六章 128MBITS存储器的测试与应用第80-85页
    6.1 128MBITS存储器芯片的参数测试第80-81页
    6.2 128MBITS存储器典型板级应用第81-85页
        6.2.1 与FPGA配合时配置模式应用第81-83页
        6.2.2 在线编程系统的软件交互解决方案第83-85页
第七章 结论第85-86页
致谢第86-87页
参考文献第87-88页

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