| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 并联电抗器磁热问题研究概况 | 第10-11页 |
| 1.2.2 引线温升问题研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 并联电抗器磁热计算原理 | 第14-34页 |
| 2.1 并联电抗器作用原理 | 第14-16页 |
| 2.1.1 空载线路的费兰梯效应 | 第14页 |
| 2.1.2 并联电抗器的工作原理 | 第14-16页 |
| 2.2 并联电抗器电磁计算原理 | 第16-19页 |
| 2.2.1 并联电抗器磁路结构 | 第16-17页 |
| 2.2.2 电抗参数计算 | 第17-19页 |
| 2.3 磁场计算方法 | 第19-25页 |
| 2.3.1 积分方程法 | 第19-21页 |
| 2.3.2 二维静磁场计算原理 | 第21-25页 |
| 2.4 温度场计算方法 | 第25-33页 |
| 2.4.1 ONAN及ONAF冷却系统油温计算 | 第25-27页 |
| 2.4.2 OFAF冷却系统油温计算 | 第27-28页 |
| 2.4.3 OFWF冷却系统油温计算 | 第28-30页 |
| 2.4.4 绕组温升计算 | 第30-32页 |
| 2.4.5 二维稳态温度场计算 | 第32-33页 |
| 2.5 本章总结 | 第33-34页 |
| 第3章 特高压并联电抗器磁热性能仿真 | 第34-46页 |
| 3.1 特高压并联电抗器结构特点 | 第34页 |
| 3.2 磁热仿真及XDS2软件介绍 | 第34-35页 |
| 3.3 BKD-320000/1100主要性能参数 | 第35-36页 |
| 3.4 磁热数值分析 | 第36-44页 |
| 3.4.1 计算任务及计算方法 | 第36页 |
| 3.4.2 二维计算模型 | 第36-37页 |
| 3.4.3 三维物理模型 | 第37-38页 |
| 3.4.4 载荷及边界条件 | 第38-39页 |
| 3.4.5 损耗计算 | 第39-40页 |
| 3.4.6 计算结果 | 第40-44页 |
| 3.5 试验结果 | 第44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 引线温升计算方法 | 第46-57页 |
| 4.1 引线损耗计算方法 | 第46-50页 |
| 4.1.1 铜棒损耗计算方法 | 第46-47页 |
| 4.1.2 铜管损耗计算方法 | 第47-48页 |
| 4.1.3 单根铜排损耗计算方法 | 第48-49页 |
| 4.1.4 多根铜排损耗计算方法 | 第49-50页 |
| 4.1.5 线圈出头损耗计算方法 | 第50页 |
| 4.2 引线温升计算方法 | 第50-56页 |
| 4.2.1 圆形引线温升计算方法 | 第51页 |
| 4.2.2 环形引线温升计算方法 | 第51-52页 |
| 4.2.3 矩形引线温升计算 | 第52-54页 |
| 4.2.4 单根铜排引线温升计算方法 | 第54页 |
| 4.2.5 两根铜排并联结构引线温升计算方法 | 第54-55页 |
| 4.2.6 三根及以上铜排并联结构引线温升计算方法 | 第55-56页 |
| 4.3 本章总结 | 第56-57页 |
| 第5章 引线温升计算程序开发与应用 | 第57-67页 |
| 5.1 引线温升计算程序开发工程背景 | 第57-58页 |
| 5.2 程序开发需求与功能设计 | 第58页 |
| 5.3 LEADTHERM程序开发 | 第58-63页 |
| 5.3.1 程序开发流程 | 第58-59页 |
| 5.3.2 LeadTherm程序主界面设计 | 第59-61页 |
| 5.3.3 LeadTherm程序子界面设计 | 第61-63页 |
| 5.4 程序应用实例与可靠性验证 | 第63-66页 |
| 5.5 本章小节 | 第66-67页 |
| 结论与展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 附录 A 攻读学位期间发表的论文 | 第73页 |