| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·磷化铟异质结晶体管(InP HBT)技术的简介 | 第11-12页 |
| ·论文的主要工作和组织结构 | 第12-14页 |
| 第二章 DAC 的基本原理和指标 | 第14-22页 |
| ·DAC 的基本原理 | 第14-15页 |
| ·DAC 的性能参数 | 第15-18页 |
| ·DAC 静态性能参数 | 第15-17页 |
| ·DAC 的动态参数 | 第17-18页 |
| ·DAC 主要类型 | 第18-21页 |
| ·R-2R 梯形网络型DAC 的原理 | 第19页 |
| ·电阻串型DAC 的原理 | 第19-20页 |
| ·电流舵型DAC 的原理 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 HBT 器件和模型 | 第22-34页 |
| ·HBT 的工作原理 | 第22-25页 |
| ·双极晶体管的工作原理 | 第22-23页 |
| ·异质结双极晶体管的工作原理 | 第23-25页 |
| ·器件的实现 | 第25页 |
| ·InP HBT 器件结构及其影响分析 | 第25-29页 |
| ·发射结层 | 第26页 |
| ·基区层 | 第26-27页 |
| ·集电极 | 第27页 |
| ·器件性能 | 第27-29页 |
| ·器件层结构及影响小结 | 第29页 |
| ·InP HBT 晶体管版图及其影响分析 | 第29-31页 |
| ·发射结宽度的影响 | 第30页 |
| ·基区接触宽度 | 第30-31页 |
| ·集电极接触 | 第31页 |
| ·发射极长度 | 第31页 |
| ·版图及其影响小结 | 第31页 |
| ·InP-DHBT 晶体管的模型 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 ECL 电路工作原理及基本逻辑门传播延时估算研究 | 第34-50页 |
| ·ECL 逻辑电路的工作原理 | 第34-35页 |
| ·ECL 逻辑电路平均传输延时的估算研究 | 第35-44页 |
| ·逻辑门电路的平均传播延时的定义 | 第36-37页 |
| ·基极响应的平均传播延时 | 第37-41页 |
| ·集电极响应的平均传播延时的估算 | 第41-43页 |
| ·射极跟随器的响应的平均传输延时的估算 | 第43-44页 |
| ·ECL 电路的中偏置电流优化设计 | 第44-47页 |
| ·ECL 逻辑电路的电参数的确定 | 第47-49页 |
| ·电源电压的选择 | 第47页 |
| ·逻辑电平的设计 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 InP DHBT 高速DAC 的设计仿真 | 第50-72页 |
| ·电流舵DAC 的体系结构 | 第50-52页 |
| ·ECL 逻辑电路的设计与仿真 | 第52-60页 |
| ·两输入或门的设计与仿真 | 第52-54页 |
| ·反相器的设计和仿真 | 第54-56页 |
| ·缓冲器(Buffer)的设计和仿真 | 第56-57页 |
| ·锁存器(Latch)的设计和仿真 | 第57-60页 |
| ·温度计解码器的设计和仿真 | 第60-66页 |
| ·二进制码到温度计码转换的原理 | 第60-63页 |
| ·解码器子模块性能仿真 | 第63-64页 |
| ·二进制码到温度计码转换电路的性能仿真 | 第64-66页 |
| ·电流源开关的设计与仿真 | 第66-69页 |
| ·电流源开关的设计和原理分析 | 第66-67页 |
| ·电流源开关的延时估算 | 第67页 |
| ·电流源开关的仿真 | 第67-68页 |
| ·电流源开关阵列的组成和仿真 | 第68-69页 |
| ·整体DAC 的设计与仿真 | 第69-71页 |
| ·整体DAC 的组成 | 第69页 |
| ·整体DAC 的仿真 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 附录A：InP-DHBT UCSD 模型 | 第80-81页 |
| 附录B：INL 和DNL matlab 数据处理程序 | 第81-82页 |
| 附录C：与延时估算有关的模型参数表 | 第82-83页 |
| 附录D：ECL 单元平均延时估算公式汇总 | 第83-94页 |
| 研究成果 | 第94-95页 |