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基于FPGA的特殊测试波形发生技术研究

摘要第3-4页
ABSTRACT第4-5页
1 绪论第8-12页
    1.1 研究背景与意义第8-9页
    1.2 主要工作内容第9-10页
    1.3 论文组织结构第10-12页
2 特殊测试信号产生技术方案第12-20页
    2.1 信号源的任务要求第12页
    2.2 系统总体设计方案第12-13页
    2.3 系统关键技术分析第13-18页
        2.3.1 DDS 原理分析第13-14页
        2.3.2 可编程逻辑电路技术分析第14-18页
    2.4 本章小结第18-20页
3 系统硬件电路设计第20-32页
    3.1 常规波形产生电路及电压调理电路第20-23页
    3.2 电平平移和峰值采样保持电路第23-24页
    3.3 比较器电器和脉冲整形电路第24-25页
    3.4 DA 和 AD 模块设计第25-31页
        3.4.1 DA 的选型和外围电路设计第25-30页
        3.4.2 AD 的选型和电路设计第30-31页
    3.5 本章小结第31-32页
4 FPGA 逻辑控制设计第32-72页
    4.1 锯齿波发生模块第32-34页
    4.2 调制波模块第34-43页
        4.2.1 ASK 调制波第35-39页
        4.2.2 PSK 调制波第39-40页
        4.2.3 FSK 调制波第40-43页
    4.3 特殊测试波形发生模块第43-57页
        4.3.1 基频发生模块第44-46页
        4.3.2 等长度阶梯波模块第46-48页
        4.3.3 连续线性等差递增数列阶梯波模块第48-52页
        4.3.4 连续线性等差递减数列阶梯波模块第52-54页
        4.3.5 等间隔等长度阶梯波模块第54-55页
        4.3.6 等间隔线性等差递增数列阶梯波模块第55-57页
    4.4 等精度测频模块第57-64页
        4.4.1 预置闸门模块第59页
        4.4.2 实际闸门模块第59页
        4.4.3 计数模块第59-60页
        4.4.4 频率计算模块第60-61页
        4.4.5 十进制转 8421BCD 码模块第61-64页
    4.5 DA 和 AD 模块第64-68页
        4.5.1 TLV5618 和 DAC902 模块第64-67页
        4.5.2 TLC549 模块第67-68页
    4.6 按键和显示模块第68-69页
        4.6.1 按键控制模块第68-69页
        4.6.2 液晶和数码管显示模块第69页
    4.7 本章小结第69-72页
5 信号测试与实验结果分析第72-84页
    5.1 常规波形和调制波测试第72-74页
    5.2 特殊测试波测试第74-78页
    5.3 DA 输出电平测试第78-81页
    5.4 测试结果分析第81-83页
    5.5 本章小结第83-84页
6 总结与展望第84-86页
    6.1 总结第84页
    6.2 展望第84-86页
致谢第86-88页
参考文献第88-90页
附录第90-91页
    A. 本课题部分程序框图第90-91页
    B. 作者攻读学位期间发表的论文第91页

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