X波段低相噪取样DRO的研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 频率源技术概述 | 第10-11页 |
1.2 空间用频率源的需求及国内现状 | 第11-13页 |
1.3 本文的主要工作 | 第13-14页 |
第二章 取样锁相环的基本理论 | 第14-39页 |
2.1 锁相环主要组成 | 第14-20页 |
2.1.1 鉴相器 | 第14-15页 |
2.1.2 环路滤波器 | 第15-20页 |
2.1.3 压控振荡器 | 第20页 |
2.2 取样锁相环的工作原理 | 第20-32页 |
2.2.1 脉冲取样鉴相器 | 第21-29页 |
2.2.2 环路设计与扩捕电路 | 第29-32页 |
2.3 锁相环的稳定性 | 第32-33页 |
2.4 锁相环的相位噪声 | 第33-37页 |
2.4.1 相位噪声的计算 | 第34-36页 |
2.4.2 环路带宽的选择 | 第36-37页 |
2.5 锁定分析 | 第37页 |
2.6 本章小结 | 第37-39页 |
第三章 介质振荡器的研究与设计 | 第39-64页 |
3.1 振荡器分类和主要指标 | 第39-42页 |
3.1.1 振荡器的分类 | 第39-40页 |
3.1.2 振荡器的主要指标 | 第40-42页 |
3.2 振荡器原理分析 | 第42-46页 |
3.2.1 正反馈模型 | 第42-43页 |
3.2.2 负阻模型 | 第43-44页 |
3.2.3 S参数两端口分析理论 | 第44-46页 |
3.3 常用的DRO电路形式 | 第46-51页 |
3.3.1 加载带阻滤波器型DRO | 第46-47页 |
3.3.2 并联反馈型DRO | 第47-51页 |
3.4 介质谐振器与变容二极管的耦合 | 第51-53页 |
3.5 DRO温度特性分析 | 第53页 |
3.6 DRO振荡器的设计 | 第53-63页 |
3.6.1 谐振器的选择 | 第53-54页 |
3.6.2 晶体管的选择 | 第54页 |
3.6.3 电路的仿真设计 | 第54-63页 |
3.7 本章小结 | 第63-64页 |
第四章 X波段取样锁相振荡器的设计与实现 | 第64-74页 |
4.1 参数设计 | 第64-66页 |
4.2 取样锁相电路设计 | 第66-72页 |
4.2.1 鉴相器的设计 | 第66-68页 |
4.2.2 环路滤波器和扩捕电路的设计 | 第68-71页 |
4.2.3 环路稳定性判决 | 第71-72页 |
4.3 锁相环调测结果 | 第72-73页 |
4.4 本章小结 | 第73-74页 |
第五章 全文总结与展望 | 第74-76页 |
5.1 全文总结 | 第74-75页 |
5.2 研究工作展望 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-79页 |