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GaN基HEMTs器件新结构与耐压特性研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第12-13页
缩略语对照表第13-16页
第一章 绪论第16-28页
    1.1 研究背景第16-17页
    1.2 GaN基HEMT器件耐压特性研究现状第17-24页
    1.3 本文的主要内容和计划第24-28页
第二章 GaN基HEMT器件原理第28-38页
    2.1 GaN材料和晶体结构简介第28-29页
    2.2 AlGaN/GaN HEMT器件的原理和二维电子气形成机理第29-32页
        2.2.1 AlGaN/GaN HEMT器件基本结构第29-30页
        2.2.2 二维电子气形成机理第30-32页
    2.3 GaN基HEMT功率开关器件应用分析第32-34页
    2.4 GaN基HEMT的击穿机理分析第34-36页
    2.5 本章小结第36-38页
第三章 GaN基HEMT器件阻断技术研究第38-54页
    3.1 T形源场板GaN基HMET器件研究第38-45页
        3.1.1 器件结构和仿真模型第38-39页
        3.1.2 结果和讨论第39-45页
    3.2 超结GaN基HEMT器件研究第45-52页
        3.2.1 超结GaN基HEMT器件结构和仿真模型第45-47页
        3.2.2 结果和讨论第47-52页
    3.3 本章小结第52-54页
第四章 GaN基HEMT双向阻断和双向开关器件研究第54-72页
    4.1 可双向阻断SJ-FLR结构HEMT器件研究第54-60页
        4.1.1 器件结构和仿真模型第55页
        4.1.2 结果和讨论第55-60页
    4.2 GaN基HEMT双向开关器件研究第60-67页
        4.2.1 双向超结GaN基HEMT双向开关器件研究第60-63页
        4.2.2 复用SJ-FLR的HEMT双向开关器件研究第63-67页
    4.3 复用FFP结构的HEMT双向开关器件研究第67-71页
        4.3.1 器件结构和仿真模型第67-68页
        4.3.2 结果和讨论第68-71页
    4.4 本章小结第71-72页
第五章 总结和前景第72-74页
    5.1 总结第72-73页
    5.2 前景第73-74页
参考文献第74-78页
致谢第78-80页
作者简介第80-81页

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