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杂化键能的理论计算及其应用

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第9-20页
    1.1 杂化理论简介第9-10页
    1.2 二维半导体材料简介第10-13页
        1.2.1 二维结构材料的类型与特点第10-12页
        1.2.2 二维半导体材料的制备技术及应用第12-13页
    1.3 半导体薄膜材料简介第13-15页
        1.3.1 半导体薄膜结构类型第13页
        1.3.2 半导体薄膜结构相变研究现状及应用第13-15页
    1.4 空位诱导局域磁性机理解释概况第15-18页
    1.5 本文研究目的与内容第18-20页
第2章 杂化键能的理论计算第20-25页
    2.1 紧束缚近似理论第20-21页
    2.2 sp~2及sp~3键能的理论计算第21-25页
第3章 杂化键能与半导体超薄膜的结构相变第25-31页
    3.1 引言第25页
    3.2 单层薄膜材料的平面结构与倒扣结构之争第25-26页
    3.3 半导体超薄膜结构相变的临界厚度预测第26-30页
    3.4 小结第30-31页
第4章 sp~3杂化键能与半导体空位诱导局域磁矩第31-36页
    4.1 引言第31-32页
    4.2 计算方法与模型第32页
    4.3 结果及其讨论第32-35页
        4.3.1 自旋密度图分析第32-33页
        4.3.2 空位缺陷处电荷密度分析第33-34页
        4.3.3 sp~3杂化键能及局域磁矩计算与讨论第34-35页
    4.4 小结第35-36页
第5章 总结与展望第36-38页
    5.1 工作总结第36页
    5.2 工作展望第36-38页
参考文献第38-42页
致谢第42-43页
个人简历、攻读硕士学位期间发表的学术论文第43页

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