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高性能DSP内核的综合优化与验证

摘要第8-9页
ABSTRACT第9页
第一章 绪论第11-18页
    1.1 本课题的研究背景第11-13页
        1.1.1 DSP芯片的发展概述第11-12页
        1.1.2 项目背景第12-13页
    1.2 本课题的相关研究工作第13-15页
    1.3 本课题的研究内容第15-16页
    1.4 本文的组织结构第16-18页
第二章 高性能DSP内核的层次化综合第18-32页
    2.1 DSP内核的层次化综合第18-21页
        2.1.1 逻辑综合流程及设置第18-20页
        2.1.2 综合策略的选择第20-21页
    2.2 基于自动约束抽取的层次化综合第21-24页
        2.2.1 子模块约束设置的传统方法第22页
        2.2.2 基于perl脚本自动抽取子模块的约束信息第22-24页
    2.3 DSP内核的物理综合第24-31页
        2.3.1 物理综合流程第24-27页
        2.3.2 用物理综合优化设计第27-31页
    2.4 本章小结第31-32页
第三章 DSP内核的优化方案第32-51页
    3.1 时序优化第32-40页
        3.1.1 分组加优化权重第32-35页
        3.1.2 时钟借用自动化算法的实现第35-40页
    3.2 面积优化第40-42页
        3.2.1 约束的影响第41页
        3.2.2 减少尺寸较大门的使用第41-42页
        3.2.3 设置面积约束第42页
    3.3 功耗优化第42-45页
        3.3.1 门控单元的插入第42-44页
        3.3.2 多阈值电压的设置第44-45页
    3.4 高性能DSP内核的手工优化第45-48页
        3.4.1 定制触发器的应用第45-46页
        3.4.2 对触发器的筛选第46-48页
    3.5 在网表中插入Feedthrough第48-50页
        3.5.1 插入Feedthrough的原因第48-49页
        3.5.2 插入Feedthrough的方法第49-50页
    3.6 本章小结第50-51页
第四章 高性能DSP内核的等价性检查第51-63页
    4.1 等价性检查的原理和流程第51-54页
        4.1.1 等价性检查的基本原理第51-52页
        4.1.2 等价性检查的基本流程第52-54页
    4.2 高性能DSP内核的等价性检查第54-61页
        4.2.1 RTL-RTL之间的检查第54-56页
        4.2.2 RTL-Gate之间的检查第56-59页
        4.2.3 Gate- Gate之间的检查第59-61页
    4.3 工作中遇到的一些问题第61-62页
    4.4 本章小结第62-63页
第五章 总结及工作展望第63-65页
    5.1 论文总结第63-64页
    5.2 工作展望第64-65页
致谢第65-67页
参考文献第67-70页
作者在学期间取得的学术成果第70页

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