| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-19页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 X射线与物质的相互作用 | 第9-10页 |
| 1.3 成像系统扫描方式的发展 | 第10-16页 |
| 1.3.1 X射线工业CT系统的组成 | 第13-15页 |
| 1.3.2 工业CT图像的性能指标 | 第15-16页 |
| 1.3.3 工业CT伪影的成因及特点 | 第16页 |
| 1.4 CT系统成像物理原理 | 第16-18页 |
| 1.5 CT系统成像数学原理 | 第18页 |
| 1.6 论文的研究内容及结构安排 | 第18-19页 |
| 2 散射伪影的成因分析及常用方法 | 第19-33页 |
| 2.1 产生机理及特点 | 第19-29页 |
| 2.1.1 蒙特卡罗介绍 | 第21-23页 |
| 2.1.2 散射的蒙特卡罗MCNP模拟 | 第23-26页 |
| 2.1.3 CT散射与被测物密度尺寸以及原子序数的关系 | 第26-29页 |
| 2.2 常用的散射校正方法 | 第29-31页 |
| 2.2.1 散射的硬件校正 | 第29页 |
| 2.2.2 散射的软件校正 | 第29-31页 |
| 2.2.3 软硬件散射校正 | 第31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-33页 |
| 3 散射校正研究 | 第33-58页 |
| 3.1 基于过滤片的散射校正 | 第33-36页 |
| 3.2 基于条状校正板的散射校正 | 第36-39页 |
| 3.3 基于扇形校正板的散射校正 | 第39-41页 |
| 3.4 基于点状校正板的散射校正（BSA） | 第41-48页 |
| 3.4.1 基于点状校正板实际CT系统实验 | 第43-48页 |
| 3.5 基于滤波板加金属小球阵列的散射校正方法（BAG） | 第48-56页 |
| 3.5.1 基于BAG校正板的校正流程 | 第48-49页 |
| 3.5.2 金属小球投影中心位置计算 | 第49页 |
| 3.5.3 基于BAG散射校正方法的理论研究 | 第49-50页 |
| 3.5.4 基于BAG散射校正的MCNP仿真 | 第50-52页 |
| 3.5.5 基于BAG散射校正的实际CT系统实验 | 第52-56页 |
| 3.6 本章小结 | 第56-58页 |
| 4 散射分解及基础散射的抑制与图像增强 | 第58-64页 |
| 4.1 基础散射的理论估计 | 第58-60页 |
| 4.2 基础散射校正实验 | 第60-62页 |
| 4.3 图像增强 | 第62页 |
| 4.3.1 灰度变换 | 第62页 |
| 4.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 5 总结与展望 | 第64-66页 |
| 5.1 全文总结 | 第64-65页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |