| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究的目的和意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 电光调制技术发展现状 | 第9页 |
| 1.2.2 电光调制器偏压控制技术发展现状 | 第9-10页 |
| 1.2.3 工作点漂移检测及校正方法发展现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 电光调制器工作原理 | 第13-23页 |
| 2.1 电光调制器 | 第13-16页 |
| 2.1.1 晶体的电光效应 | 第13-14页 |
| 2.1.2 电光调制器的分类 | 第14-15页 |
| 2.1.3 电光调制器工作点的漂移 | 第15-16页 |
| 2.2 铌酸锂电光强度调制器 | 第16-21页 |
| 2.2.1 电光强度调制器工作原理 | 第16-17页 |
| 2.2.2 电光强度调制方式分类 | 第17-21页 |
| 2.3 本文所选用电光强度调制器 | 第21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-23页 |
| 第3章 电光调制器工作点漂移检测及控制方法 | 第23-29页 |
| 3.1 电光调制器漂移误差检测实现方案 | 第23-26页 |
| 3.1.1 工作点漂移检测理论分析 | 第23-25页 |
| 3.1.2 加入扰动信号后的电光调制器输出情况分析 | 第25页 |
| 3.1.3 输入输出混频后结果分析 | 第25-26页 |
| 3.2 工作点漂移的校正方法 | 第26-28页 |
| 3.2.1 模拟PID与数字PID控制器比较 | 第27页 |
| 3.2.2 数字PID控制器设计 | 第27-28页 |
| 3.2.3 PID控制器各项的选择 | 第28页 |
| 3.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第4章 基于锁相放大器的误差信号检测 | 第29-38页 |
| 4.1 互相关器的工作原理 | 第29-31页 |
| 4.1.1 互相关接收 | 第29-30页 |
| 4.1.2 互相关器的检测理论 | 第30-31页 |
| 4.2 锁相放大器 | 第31-33页 |
| 4.2.1 锁相放大器的构成 | 第31页 |
| 4.2.2 锁相放大器的工作原理 | 第31-32页 |
| 4.2.3 方波控制的相敏放大器 | 第32-33页 |
| 4.3 基于AD630的误差信号检测 | 第33-37页 |
| 4.3.1 AD630简介 | 第33-34页 |
| 4.3.2 AD630的Spice模型仿真 | 第34-37页 |
| 4.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第5章 电光调制器偏压漂移检测及校正系统设计 | 第38-50页 |
| 5.1 电光调制器偏压控制系统整体结构 | 第38页 |
| 5.2 硬件系统设计 | 第38-46页 |
| 5.2.1 光电探测模块 | 第38-41页 |
| 5.2.2 锁相放大器的设计 | 第41-42页 |
| 5.2.3 A/D采集电路设计 | 第42-43页 |
| 5.2.4 微处理器 | 第43-44页 |
| 5.2.5 D/A转换模块 | 第44-45页 |
| 5.2.6 正弦信号发生及衰减电路 | 第45-46页 |
| 5.2.7 加法电路 | 第46页 |
| 5.3 工作点的校正流程 | 第46-49页 |
| 5.3.1 工作点的粗略定位 | 第46-47页 |
| 5.3.2 工作点的精确控制 | 第47-48页 |
| 5.3.3 PID控制器的控制流程 | 第48-49页 |
| 5.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第6章 实验结果与分析 | 第50-54页 |
| 6.1 实验平台 | 第50页 |
| 6.2 实验结果分析 | 第50-53页 |
| 6.2.1 光功率和偏置电压变化曲线 | 第50-52页 |
| 6.2.2 调制脉冲波形测量 | 第52页 |
| 6.2.3 输出信号眼图测量 | 第52-53页 |
| 6.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 总结与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 作者简介及科研成果 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |