| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 引言 | 第8-11页 |
| 1 绪论 | 第11-16页 |
| ·漏功耗减小技术的研究背景 | 第11-13页 |
| ·栅漏功耗减小技术的研究意义 | 第13-14页 |
| ·本论文的主要工作 | 第14-16页 |
| 2 漏功耗的形成机制及漏功耗减小技术 | 第16-27页 |
| ·漏功耗形成机制及三种主要漏电流 | 第16-20页 |
| ·集成电路的漏功耗减小技术 | 第20-25页 |
| ·功控休眠技术 | 第20-21页 |
| ·双阈值CMOS技术 | 第21-22页 |
| ·可变阈值技术 | 第22-23页 |
| ·输入矢量控制技术 | 第23页 |
| ·晶体管堆垛技术 | 第23-24页 |
| ·沟道长度偏置技术 | 第24-25页 |
| ·P型电路设计技术 | 第25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 3 P型功控能量恢复电路漏功耗减小技术 | 第27-46页 |
| ·DTGAL功控开关介绍 | 第27-45页 |
| ·N型DTGAL功控开关 | 第27-33页 |
| ·P型DTGAL功控开关 | 第33-39页 |
| ·基于NDTGAL和PDTGAL的功控电路漏功耗减小技术 | 第39-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 4 P型能量恢复组合电路漏功耗减小技术 | 第46-60页 |
| ·能量恢复电路活动漏功耗估算方法 | 第46-53页 |
| ·CPAL绝热逻辑结构 | 第47-48页 |
| ·CPAL逻辑电路功耗模型 | 第48-50页 |
| ·CPAL电路漏功耗估计 | 第50-53页 |
| ·基于PCPAL逻辑的组合电路漏电流减小技术 | 第53-59页 |
| ·PCPAL绝热逻辑结构 | 第53-54页 |
| ·NCPAL和PCPAL全加器 | 第54-56页 |
| ·PCPAL电路活动漏功耗估计分析与仿真结果 | 第56-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 5 P型能量恢复时序电路漏功耗减小技术 | 第60-72页 |
| ·基于PAL-2P绝热逻辑的单阈值S27 基准电路 | 第60-69页 |
| ·N-Type 和 P-Type PAL-2N 电路 | 第60-62页 |
| ·S27 基准电路 | 第62-65页 |
| ·基于PAL-2N和PAL-2P的S27 基准电路活动漏功耗比较 | 第65-69页 |
| ·基于PAL-2P绝热逻辑的双阈值S27 基准电路 | 第69-71页 |
| ·双阈值PAL-2P 绝热逻辑电路 | 第69-70页 |
| ·仿真结果比较 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 6 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 在学研究成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
