| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-16页 |
| ·统计过程控制（SPC）的发展及研究意义 | 第7-9页 |
| ·产品质量的统计观念 | 第7页 |
| ·统计过程控制的重要意义 | 第7-8页 |
| ·统计过程控制的发展 | 第8-9页 |
| ·统计质量控制图基本理论 | 第9-14页 |
| ·统计质量控制图的设计原理 | 第9-11页 |
| ·统计质量控制图的图种发展 | 第11-14页 |
| ·非参多元统计过程控制的国内外研究 | 第14-15页 |
| ·本文的创新点 | 第15-16页 |
| 第2章 非参多元控制图的现有工作 | 第16-22页 |
| ·非参数统计方法介绍 | 第16-19页 |
| ·符号检验法 | 第16-17页 |
| ·Wilcoxon 符号秩检验 | 第17-18页 |
| ·W-M-W 秩和检验 | 第18-19页 |
| ·非参多元控制图 | 第19-22页 |
| 第3章 本文所提出的基于变点模型的非参多元控制图 | 第22-28页 |
| ·变点模型的介绍及应用 | 第22-27页 |
| ·变点模型原理介绍 | 第22-23页 |
| ·基于变点模型的非参多元控制图的检验统计量的构造 | 第23-24页 |
| ·基于变点模型的非参多元控制图的设计与实现 | 第24-27页 |
| ·基于变点模型的非参多元控制图的诊断问题 | 第27-28页 |
| 第4章 CP 非参多元控制图与 EWMA 非参多元控制图的性能对比 | 第28-32页 |
| ·可控平均运行长度(IC-ARL)的比较 | 第28-29页 |
| ·失控平均运行长度(OC-ARL)的比较 | 第29-32页 |
| 第5章 结论 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-37页 |
| 致谢 | 第37-38页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第38页 |