| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-14页 |
| ·统计过程控制（SPC）的意义及发展 | 第7-9页 |
| ·统计质量控制图基本理论 | 第9-12页 |
| ·质量控制图发展 | 第9-11页 |
| ·质量控制图基本概念 | 第11-12页 |
| ·本文的研究背景及意义 | 第12-14页 |
| 第2章 多元非参控制图的研究 | 第14-23页 |
| ·多元非参控制图的方法介绍 | 第14-17页 |
| ·与分布无关的多元非参 EWMA 控制图 | 第17-23页 |
| ·秩和检验方法的简单介绍 | 第17-18页 |
| ·与分布无关的非参多元 EWMA 控制图 | 第18-23页 |
| 第3章 与分布无关的自适应多元 EWMA 控制图 | 第23-29页 |
| ·自适应 EWMA 控制图方法介绍 | 第23-27页 |
| ·与分布无关的自适应多元 EWMA 控制图 | 第27-29页 |
| 第4章 ADFEWMA 控制图与其它多元 EWMA 控制图的性能比较 | 第29-37页 |
| ·可控平均运行长度（IC-ARL）的比较 | 第29-31页 |
| ·失控平均运行长度（OC-ARL）的比较 | 第31-37页 |
| 第5章 结论 | 第37-38页 |
| 参考文献 | 第38-41页 |
| 致谢 | 第41-42页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第42页 |