| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 1 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·稀磁半导体材料 | 第10-16页 |
| ·物理特性 | 第11-13页 |
| ·磁学性质 | 第11-12页 |
| ·光学性质 | 第12页 |
| ·磁输运特性 | 第12-13页 |
| ·应用前景 | 第13-14页 |
| ·稀磁半导体中（铁）磁性起源的理论模型 | 第14-16页 |
| ·直接交换和超交换作用 | 第14页 |
| ·载体介导交换作用 | 第14-15页 |
| ·束缚磁极化子 | 第15-16页 |
| ·TiO_2铁磁性起源的研究进展 | 第16-22页 |
| ·TiO_2的晶体结构 | 第16-20页 |
| ·分类及性质 | 第16-17页 |
| ·Castep模块计算结果 | 第17-20页 |
| ·TiO_2铁磁性起源 | 第20-21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| ·需进一步解决的问题 | 第22页 |
| ·本论文的研究思路和结构安排 | 第22-24页 |
| 2 实验方法和设备 | 第24-41页 |
| ·正电子谱学及测量技术 | 第24-34页 |
| ·正电子谱学 | 第24-25页 |
| ·正电子谱学测量技术 | 第25-34页 |
| ·正电子湮没寿命谱 | 第25-28页 |
| ·多普勒展宽谱 | 第28-30页 |
| ·符合多普勒展宽能谱 | 第30-33页 |
| ·慢正电子束流技术 | 第33-34页 |
| ·超导量子干涉仪 | 第34-35页 |
| ·X射线分析技术 | 第35-39页 |
| ·X射线衍射 | 第35-36页 |
| ·扫描电子显微镜 | 第36-37页 |
| ·X射线光电子谱 | 第37-39页 |
| ·同步辐射光源 | 第39-41页 |
| ·北京同步辐射装置 | 第39页 |
| ·X射线吸收精细结构谱 | 第39-41页 |
| 3 热处理金红石TiO_2单晶的铁磁性起源 | 第41-54页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·真空高温热处理 | 第41-43页 |
| ·缺陷类型和磁学性能测试 | 第43-53页 |
| ·缺陷类型 | 第43-50页 |
| ·晶体缺陷 | 第43-44页 |
| ·X射线衍射谱测试结果 | 第44-45页 |
| ·X射线吸收精细结构测试结果 | 第45-47页 |
| ·正电子涯没寿命谱测试结果 | 第47-50页 |
| ·磁学性能测试 | 第50-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 4 N离子掺杂金红石TiO_2单晶的铁磁性起源 | 第54-67页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·N离子注入金红石TiO_2单晶的SRIM模拟计算 | 第54-56页 |
| ·SRIM程序简介 | 第54页 |
| ·SRIM计算结果 | 第54-56页 |
| ·缺陷类型和磁学性能测试 | 第56-66页 |
| ·缺陷类型 | 第56-64页 |
| ·X射线衍射谱测试结果 | 第56-57页 |
| ·扫描电子显微镜测试结果 | 第57-58页 |
| ·X射线光电子谱测试结果 | 第58-63页 |
| ·慢正电子束流测试结果 | 第63-64页 |
| ·磁学性能测试 | 第64-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 5 总结和展望 | 第67-68页 |
| ·主要结论 | 第67页 |
| ·工作展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 个人简历 | 第73页 |
| 在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |