| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-27页 |
| ·研究背景及意义 | 第13-14页 |
| ·左手材料的研究现状和进展 | 第14-18页 |
| ·理论研究 | 第14-15页 |
| ·实现方法的研究 | 第15-17页 |
| ·应用的研究 | 第17-18页 |
| ·左手材料的理论 | 第18-25页 |
| ·左手材料的定义 | 第18-20页 |
| ·左手材料的特性 | 第20-22页 |
| ·左手材料的实现 | 第22-25页 |
| ·左手材料的影响因素 | 第25-26页 |
| ·带宽的影响因素 | 第26页 |
| ·损耗的影响因素 | 第26页 |
| ·论文研究内容 | 第26-27页 |
| 第二章 单元结构、CST 仿真及 Retrieve 算法 | 第27-32页 |
| ·单元结构 | 第27-28页 |
| ·单元结构模型及尺寸 | 第27页 |
| ·边界条件 | 第27-28页 |
| ·CST Microwave Wave 仿真 | 第28-29页 |
| ·CST 仿真器 | 第28-29页 |
| ·仿真步骤 | 第29页 |
| ·Retrieve 算法 | 第29-32页 |
| 第三章 等效电路模型 | 第32-42页 |
| ·等效磁导率 | 第32-38页 |
| ·单元结构及尺寸 | 第32-33页 |
| ·等效电路 | 第33-34页 |
| ·等效磁导率公式 | 第34-38页 |
| ·等效介电常数 | 第38-40页 |
| ·等效电路 | 第38-39页 |
| ·等效介电常数公式 | 第39-40页 |
| ·磁谐振频率与结构尺寸的关系 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 左手材料的电磁响应 | 第42-48页 |
| ·左手材料的电响应和磁响应 | 第42-46页 |
| ·三种边界条件 | 第42-43页 |
| ·电响应 | 第43-44页 |
| ·磁响应 | 第44页 |
| ·传输系数及等效参数 | 第44-46页 |
| ·表面电流分布 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 左手材料带宽的影响因素 | 第48-68页 |
| ·初始结构 | 第48-49页 |
| ·间隙大小 | 第49-54页 |
| ·水平间隙 | 第50-51页 |
| ·竖直间隙 | 第51-52页 |
| ·水平竖直间隙 | 第52-54页 |
| ·金属箔片线宽 | 第54-55页 |
| ·金属箔片厚度 | 第55-57页 |
| ·介质板厚度 | 第57-58页 |
| ·周期间距 | 第58-60页 |
| ·周期单元数目 | 第60-61页 |
| ·非周期性结构 | 第61-63页 |
| ·电调结构 | 第63-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 第六章 左手材料损耗的影响因素 | 第68-75页 |
| ·介质板 | 第68-71页 |
| ·介质板厚度 | 第68-69页 |
| ·介质板介电常数 | 第69-70页 |
| ·介质板损耗角正切 | 第70-71页 |
| ·金属箔片 | 第71-74页 |
| ·金属箔片厚度 | 第72-73页 |
| ·金属箔片电导率 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第七章 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第83页 |