GSM移动终端新技术及其应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·超低端手机的需求以及国内外情况 | 第7-8页 |
| ·双卡手机的需求 | 第8-10页 |
| ·项目期间主要完成的任务 | 第10页 |
| ·本文的主要内容 | 第10-11页 |
| 第二章 手机硬件架构介绍 | 第11-29页 |
| ·核心部分 | 第11-19页 |
| ·手机基带处理架构 | 第14-16页 |
| ·射频部分 | 第16-18页 |
| ·电源及充电管理 | 第18-19页 |
| ·外设接口 | 第19-27页 |
| ·SIM | 第19-21页 |
| ·显示接口及其背光电路 | 第21-23页 |
| ·CAMERA | 第23-25页 |
| ·BLUETOOTH | 第25-26页 |
| ·音频接口 | 第26-27页 |
| ·总结 | 第27-29页 |
| 第三章 双卡双待的硬件系统架构和实现 | 第29-43页 |
| ·双卡双待单通系统架构 | 第29-30页 |
| ·SIM接口信号 | 第29-30页 |
| ·系统框架 | 第30页 |
| ·SIM接口芯片介绍 | 第30-37页 |
| ·芯片功能 | 第30-33页 |
| ·软件相关设置 | 第33-37页 |
| ·总结 | 第37-43页 |
| 第四章 设计过程中的问题以及解决方案 | 第43-65页 |
| ·射频功能测试以及测试环境的搭建 | 第43-45页 |
| ·测试连接图 | 第43-44页 |
| ·射频功能具体测试总结 | 第44-45页 |
| ·基带功能测试及总结 | 第45-52页 |
| ·SIM信号质量测试 | 第45-47页 |
| ·SIM时序测试 | 第47-49页 |
| ·32K时钟信号测试 | 第49页 |
| ·I2C总线测试 | 第49-50页 |
| ·SIM2的热插拔检测 | 第50-52页 |
| ·整机电流测试 | 第52-58页 |
| ·待机电流测试 | 第52-55页 |
| ·通话电流测试 | 第55-58页 |
| ·电磁兼容及辐射性能测试 | 第58-65页 |
| ·手机的电磁兼容测试 | 第58-63页 |
| ·手机的电磁辐射测试 | 第63-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69页 |
