仿真X射线谱及双能峰模型研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 引言 | 第7-9页 |
| ·本文的研究的背景及意义 | 第7-8页 |
| ·本文的主要工作 | 第8页 |
| ·本文的结构安排 | 第8-9页 |
| 第2章 X射线 CT成像的有关基础 | 第9-19页 |
| ·X射线 CT成像的物理基础 | 第9-13页 |
| ·X射线的产生 | 第9-11页 |
| ·X射线与物质的相互作用 | 第11-12页 |
| ·X射线的探测 | 第12-13页 |
| ·X射线 CT成像的数学基础 | 第13-17页 |
| ·CT问题 | 第13-14页 |
| ·Radon变换及滤波反投影算法 | 第14-16页 |
| ·伪影的产生 | 第16-17页 |
| ·计算机仿真方法 | 第17-19页 |
| ·Monte Carlo方法 | 第17-18页 |
| ·GEANT4仿真软件 | 第18-19页 |
| 第3章 仿真 X射线谱的初步研究 | 第19-33页 |
| ·X光管的仿真 | 第19-20页 |
| ·仿真 X光管的若干因素对 X射线谱的影响 | 第20-27页 |
| ·靶的材料及厚度对射线谱的影响 | 第20-22页 |
| ·滤波片种类及厚度对射线谱的影响 | 第22-25页 |
| ·管电压对射线谱的影响 | 第25-26页 |
| ·管电流对射线谱的影响 | 第26-27页 |
| ·窄谱 X射线的产生 | 第27-30页 |
| ·窄谱 X射线的应用 | 第30-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第4章 双能峰模型及硬化校正 | 第33-41页 |
| ·理论模型 | 第33-36页 |
| ·双能峰模型的适用条件分析 | 第36-37页 |
| ·硬化校正 | 第37-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第5章 总结与展望 | 第41-42页 |
| ·全文总结 | 第41页 |
| ·工作展望 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-45页 |
| 致谢 | 第45页 |
