电路板板载元器件检测系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·研究意义及其生产应用 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·本文的研究内容 | 第11页 |
| ·本文章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 PCBA图像预处理 | 第13-27页 |
| ·噪声去除 | 第13-16页 |
| ·噪声的产生 | 第13-14页 |
| ·噪声去除 | 第14-16页 |
| ·形态学滤波 | 第16-18页 |
| ·图像分割 | 第18-20页 |
| ·灰度阈值法 | 第19页 |
| ·边缘检测法 | 第19页 |
| ·区域增长法 | 第19-20页 |
| ·光照不均的校正 | 第20-27页 |
| ·背景去除法 | 第20-21页 |
| ·同态滤波法 | 第21-23页 |
| ·改进的同态滤波法 | 第23-27页 |
| 第三章 PCBA图像定位 | 第27-37页 |
| ·电路板 MARK点设计规则 | 第27-28页 |
| ·基于 HOUGH变换的PCB定位 | 第28-34页 |
| ·PCB板定位常用方法介绍 | 第28-29页 |
| ·Hough变换的基本原理 | 第29-31页 |
| ·改进 Hough变换精确定位 Mark标记 | 第31-34页 |
| ·实验与分析 | 第34-37页 |
| 第四章 元器件特征提取及特征数据库建立 | 第37-53页 |
| ·几类典型元件特征分析 | 第37-39页 |
| ·贴片电容电阻特征 | 第37-38页 |
| ·SOP封装元件 | 第38页 |
| ·QFP封装元件 | 第38-39页 |
| ·元件特征提取 | 第39-49页 |
| ·电阻特征提取 | 第39-42页 |
| ·电容特征提取 | 第42-47页 |
| ·SOP、QFP封装元件特征提取 | 第47-49页 |
| ·元件特征数据库建立 | 第49-53页 |
| ·元件特征提取 | 第49页 |
| ·元器件位置报表文件导出 | 第49-50页 |
| ·特征数据库生成 | 第50-53页 |
| 第五章 元件识别与缺陷检测 | 第53-69页 |
| ·元件定位分割 | 第53-54页 |
| ·元件快速定位 | 第53-54页 |
| ·元件区域分割 | 第54页 |
| ·元件识别与缺陷检测 | 第54-63页 |
| ·缺陷类型 | 第54-57页 |
| ·片式电容与片式电阻检测方法 | 第57页 |
| ·SOP、QFP封装元件检测方法 | 第57-59页 |
| ·元件类型与缺陷检测设计 | 第59-63页 |
| ·检测系统设计 | 第63-65页 |
| ·实验结果及分析 | 第65-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| ·工作总结 | 第69页 |
| ·工作展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-78页 |
| 撰写的相关学术论文 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
